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固體粉末漫反射率測量系統(tǒng)

2025-04-10

產(chǎn)      地:
暫無
所在地區(qū):
北京北京市
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Omni-DR300 固體粉末漫反射率測量系統(tǒng)

本系統(tǒng)采用寬波段波長可調(diào)單色光源和積分球整合而成,測試光為垂直光路,樣品盛放裝置為小型抽屜式樣品盒,方便放置粉末類樣品,易于替換。

光譜測量范圍:350-2500nm

光譜分辨率:2nm以下

光譜掃描步距:0.2-100nm可連續(xù)設(shè)置

波長準確度:優(yōu)于±0.2nm(紫外-可見區(qū)),優(yōu)于±0.5nm(近紅外區(qū))

光度測量準確度:1%以內(nèi)(紫外-可見區(qū)),2%以內(nèi)(近紅外區(qū))

光度測量重復(fù)性:1%

測試光軸與試樣夾角:不大于10°

測試試樣尺寸(典型):Ø10(D) *3(H)(mm)

尺寸圖

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