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IPS-涂層陰極剝離測(cè)試設(shè)備

2025-05-23

產(chǎn)      地:
德國(guó)
所在地區(qū):
北京北京市
有效期還剩 183舉報(bào)該信息

涂層陰極剝離測(cè)試設(shè)備適用于?ASTM G-8 ?ASTM G-42?DIN 30670?DIN EN ISO 15711?ISO 21809第1部分? GSK RAL-GZ 662 Appendix 7等測(cè)試。

我們的客戶(hù)有AVK集團(tuán),巴斯夫等。

測(cè)試過(guò)程中,樣品涂層會(huì)受到一定程度的破壞,從而使鋼基材突出。然后將該樣品相對(duì)于陽(yáng)極進(jìn)行陰極極化,即將鋼連接起來(lái)到負(fù)極的可控電流源。 測(cè)試后,去除涂層并評(píng)估滲透程度。

涂層陰極剝離測(cè)試設(shè)備是一款專(zhuān)業(yè)測(cè)試設(shè)備,長(zhǎng)時(shí)間測(cè)試,數(shù)據(jù)穩(wěn)定。

Supply voltage 115/230V, 47–53 Hz, max. 1 A, IEC connector
Modes Potentiostat 測(cè)試工作站
兩電極,三電極體系Electrode connections 2, 3, Electrode (CE, RE, WE) 
槽壓Compliance voltage ±12 V   
電流Maximum current ±150 mA   
極化電位Polarization ranges ±2 V Potentiostat   
電流量程Current ranges 2 ranges 20 mA and 100 mA  
電流分辨率Resolution 0.01 mA    
儀器輸入阻抗Electrometer input impedance RE 1013 Ω   
電位分辨率Resolution of set value 1 mV          
測(cè)量電流分辨率 Resolution of measurement 0.01 mA    
可以選擇四通道儀器Interface Optional for P-M 100-4    

帶有數(shù)據(jù)記錄器的P-M 100-4的可選軟件EcmWin和EcmView
測(cè)量OCP,保持實(shí)驗(yàn),專(zhuān)為陰極剝離測(cè)試而設(shè)計(jì)

Software Optional EcmWin and EcmView for P-M 100-4 with datalogger
Measurement OCP, hold experiments, special designed for cathodic Dispondment Test

 

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