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CHY-01膜厚測(cè)厚儀機(jī)械接觸式測(cè)量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。膜厚測(cè)厚儀專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。
技術(shù)特征
l 嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的接觸面積和測(cè)量壓力，同時(shí)支持各種非標(biāo)定制;
l 測(cè)試過程中測(cè)量頭自動(dòng)升降，有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差;
l 測(cè)試軟件提供測(cè)試結(jié)果圖形統(tǒng)計(jì)分析，準(zhǔn)確直觀地將測(cè)試結(jié)果展示給用戶；
l 彩色大液晶顯示測(cè)試結(jié)果，及每次測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值；
l 配備微型打印機(jī)，快速打印每次測(cè)量結(jié)果及統(tǒng)計(jì)大小值、平均值；
l 支持?jǐn)?shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)、打印等許多實(shí)用功能;
l 配備標(biāo)準(zhǔn)RS232接口，方便系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)傳輸；
l 配備專用自動(dòng)進(jìn)樣器，可一鍵實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)多點(diǎn)測(cè)量，人為誤差小（選配）；
應(yīng)用范圍
適用于5mm范圍內(nèi)各種薄膜、薄片、隔膜、復(fù)合膜、紙張、紙板、玻璃、箔片、硅片、金屬箔片、硬片、紡織材料、固體電絕緣體、無紡布材料等硬質(zhì)和軟質(zhì)材料厚度準(zhǔn)確測(cè)量。分辨率達(dá)0.1um，廣泛應(yīng)用于薄膜、鋁箔生產(chǎn)企業(yè)、質(zhì)檢機(jī)構(gòu)等單位。擴(kuò)展應(yīng)用：（需特殊附件或改制）
產(chǎn)品名稱 | 使用范圍 |
薄膜 | 用于薄膜、薄片、電池隔膜、電容薄膜材料等軟質(zhì)材料厚度測(cè)量。 |
鋁箔 | 對(duì)金屬箔片、硬片等硬質(zhì)材料厚度測(cè)量。 |
紙張 | 用于各種紙張、紙板材料厚度測(cè)試。 |
硅片 | 接觸式測(cè)試原理有效的檢測(cè)出硅片上每個(gè)點(diǎn)的厚度值。 |
測(cè)試原理
測(cè)厚儀采用接觸式測(cè)試原理，截取一定尺寸試樣，測(cè)厚儀測(cè)量頭自動(dòng)降落于試樣之上，依靠固定的壓力和固定的接觸面積下測(cè)試出試樣的厚度值。
適用標(biāo)準(zhǔn)
該儀器符合多項(xiàng)國(guó)家和國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 6672-2001 、GB/T 451.3-2002、GB/T 6547-1998、ISO 4593-1993、ISO 534-2011、ISO 3034-2011、ASTM D374-1999、ASTM D1777-1996(2007)、JIS K6250-1997、JIS K6783-1994、JIS Z1702-1994、BS 3983-1989 、BS 4817 、TAPPI T411
技術(shù)參數(shù)
規(guī) 格 | 參 數(shù) |
測(cè)量范圍 | 0-5mm(可根據(jù)需要定做合適夾具) |
測(cè)量壓力 | 17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（紙張） |
測(cè)量精度 | ±0.5um |
分辨率 | 0.1um |
接觸面積 | 50mm2（薄膜），200mm2（紙張） 注：紙張需定制 |
測(cè)量速度 | 10c/min (可調(diào)) |
外形尺寸 | 454mmx352mmX500mm |
電源 | AC220V 50Hz |
凈重 | 30kg |
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