化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>物理特性分析儀器>無損檢測>X射線探傷機(jī)/X射線探傷儀>納米焦點(diǎn)DR檢測系統(tǒng) 超高分辨率納米焦點(diǎn)DR檢測系統(tǒng) 修改
納米焦點(diǎn)DR檢測系統(tǒng) 超高分辨率納米焦點(diǎn)DR檢測系統(tǒng) 修改
參考價 | ¥ 8000000 |
訂貨量 | ≥1 |
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 上海恩迪檢測控制技術(shù)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 納米焦點(diǎn)DR檢測系統(tǒng)
- 產(chǎn)地 上海
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時間 2018/5/16 11:40:23
- 訪問次數(shù) 417
產(chǎn)品標(biāo)簽
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超高分辨率納米焦點(diǎn)DR檢測系統(tǒng)
關(guān)鍵特征:
- 190kV/225kV/240kV穿透型高分辨率納米焦點(diǎn)射線
- JIMA卡空間分辨率測試可達(dá)0.5微米
- 支持多種平板探測器,探元大小可選50微米/100微米/139微米/200微米
主要技術(shù)規(guī)格:
微米焦點(diǎn)射線管 | 類型 | 穿透型納米焦點(diǎn)射線管 |
zui大管電壓 | 190kV/225kV/240kV | |
冷卻 | 封閉式自循環(huán)冷卻 | |
焦點(diǎn)大小 | 0.5微米(采用JIMA卡測試) | |
探測器 | 類型 | 非晶硅平板探測器 |
像素大小 | 100um /127um /139um/200um | |
像素?cái)?shù)量 | 平板探測器:>2048′2048 | |
機(jī)械系統(tǒng) | 類型 | 高精度機(jī)械系統(tǒng) |
zui大有效檢測范圍 | 可定制化 | |
zui大承重 | 可定制化 | |
旋轉(zhuǎn) | nx3600 | |
軟件 | 類型 | 二維射線檢測 |
軟件功能 | 系統(tǒng)控制、二維射線檢測、平板探測器校正、圖像處理、灰度分析、圖像濾波、測量功能、支持定制化軟件功能 |