LS 13 320 XR 激光衍射粒度分析儀

LS 13 320 XR 激光衍射粒度分析儀

主要特點

• 優(yōu)于ISO 13 320技術標準
• 符合FDA的21 CFR Part 11標準
• 檢測器數(shù)量更多，高達132枚獨立物理位置檢測器，對應高達136個真實數(shù)據(jù)通道，能夠清晰區(qū)分不同粒度等級間散射光強譜圖差異，確保不缺漏絲毫信息，快速、準確的真實粒度測量。
• 設計的“X”型對數(shù)排布檢測器陣列，可以準確記錄散射光強信號，不管單峰、多峰，準確分析粒度分布。
• 全自動運算分析功能，多峰自動檢測，無需事先猜測峰型，無需選擇分析模型，提供客觀的報告。
• 升級版PIDS技術提供創(chuàng)新的高分辨率納米粒度分析功能，真正實現(xiàn)10nm下限峰值測量。
• PIDS技術不僅可以直接檢測小至10 nm的顆粒，而且還可以直接檢測納米級的多峰分布。
• 納米分析功能與微米分析功能合二為一，功能強大，真正10nm的測量可使其作為獨立的高分辨率納米粒度分析儀使用。
• 新一代固體激光光源，無需預熱，7萬小時以上開機使用壽命 。
• 并行式信號采集與傳輸，確保信號保持高信噪比、無時差、高通量。

 多波長和偏振光分析技術令粒度分布在寬動態(tài)范圍內(nèi)的準確性分析獲得高度保障。
• 多種自動化樣品分散系統(tǒng)，“即插即用”，數(shù)秒即可完成切換，高效便利。