EmiosAT-1500 非接觸式膜厚儀

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱 大塚電子（蘇州）有限公司
品牌 OTSUKA/日本大塚
型號(hào) EmiosAT-1500
產(chǎn)地
廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間 2020/6/16 10:58:15
訪問(wèn)次數(shù) 2421

產(chǎn)品標(biāo)簽

非接觸式光學(xué)膜厚儀光學(xué)膜厚儀非接觸式測(cè)厚儀

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公司介紹 主營(yíng)產(chǎn)品

大塚電子（蘇州）有限公司成立于2007年4月，致力于讓中國(guó)客戶能安心使用已有50年歷史的日本大塚電子所研發(fā)與生產(chǎn)的測(cè)量與分析設(shè)備。

我們的產(chǎn)品涵蓋LED、OLED等光源和照明行業(yè)，產(chǎn)品包括有液晶和有機(jī)EL顯示行業(yè)的光學(xué)特性評(píng)估與檢測(cè)設(shè)備；用于測(cè)量半導(dǎo)體晶圓和薄膜化學(xué)品厚度的設(shè)備；以及評(píng)估墨水、研磨劑、醫(yī)藥和化妝品材料的納米顆粒（粒徑和ζ電位測(cè)量）設(shè)備，這些設(shè)備均應(yīng)用了我們的“光”技術(shù)。

在日本，我們的產(chǎn)品擁有眾多交付實(shí)績(jī)。為提供全面的售前和售后支持，我們?cè)O(shè)立了技術(shù)和維護(hù)中心，努力提供快速、令客戶滿意并能使客戶感受到關(guān)懷和價(jià)值的服務(wù)。

我們致力于不斷提升產(chǎn)品價(jià)值和支持服務(wù)，做到讓客戶能主動(dòng)向他人推薦大塚電子的產(chǎn)品。

我們是大塚集團(tuán)的一員，繼承了集團(tuán)的企業(yè)理念「Otsuka-people creating new products for better health worldwide」

以及大塚集團(tuán)歷代的3個(gè)思想，即「流汗悟道」「實(shí)證」「創(chuàng)造性」，并以此行動(dòng)。我們推出創(chuàng)新產(chǎn)品，開(kāi)展業(yè)務(wù)，為社會(huì)做出貢獻(xiàn)。

對(duì)于那些挑戰(zhàn)可能性邊界的人來(lái)說(shuō)，天空是無(wú)限的。超越它，就會(huì)有一個(gè)全新的前沿世界。

利用大塚電子的技術(shù)“光”的力量，為業(yè)界提供解決方案是我們的使命。

Otsuka-people creating new products for better health worldwide

傳承大塚的“實(shí)證與創(chuàng)造”精神，時(shí)刻為了實(shí)踐“因?yàn)槭谴髩V所以能做到”、"只有大塚才能做到"的口號(hào)而努力奮斗。

大塚電子，通過(guò)革新的且富有創(chuàng)造性的產(chǎn)品（設(shè)備)服務(wù)，在「健康和生活」的領(lǐng)域，不斷地為人民的生活做著貢獻(xiàn)。

展開(kāi)

zeta電位?粒徑?分子量測(cè)量系統(tǒng)，晶圓在線測(cè)厚系統(tǒng)，線掃描膜厚儀，顯微分光膜厚儀，線掃描膜厚儀，分光干涉式晶圓膜厚儀，相位差膜?光學(xué)材料檢測(cè)設(shè)備，非接觸光學(xué)膜厚儀，小角激光散射儀，多檢體納米粒徑量測(cè)系統(tǒng)，量子效率測(cè)量系統(tǒng)

詳細(xì)信息 在線詢價(jià)

產(chǎn)地類別	進(jìn)口	價(jià)格區(qū)間	20萬(wàn)-50萬(wàn)
應(yīng)用領(lǐng)域	醫(yī)療衛(wèi)生,化工,能源,電子/電池,汽車及零部件

非接觸式膜厚儀Eimos設(shè)備操作簡(jiǎn)單，放置樣品即可測(cè)量的。一步到位。

縮短檢查工程，無(wú)標(biāo)準(zhǔn)曲線，精度高，分辨率高，輕松測(cè)量樣品的厚度。

光學(xué)方式為大冢電子*，不僅外形小巧，無(wú)論透明、粗糙還是易變形的樣品，都可以實(shí)現(xiàn)非接觸式的高精度測(cè)量。

非接觸式膜厚儀特點(diǎn)：

非接觸式測(cè)量不透明、粗糙，易變形的樣品
反復(fù)性，再現(xiàn)性高
無(wú)標(biāo)準(zhǔn)曲線也可知道厚度
測(cè)量徑很小，不受斑點(diǎn)的影響
樣品位置無(wú)需調(diào)整，放進(jìn)去即可。
穩(wěn)定性高，不會(huì)產(chǎn)生誤差，所以誰(shuí)都能操作。
光學(xué)方式原理所以安全

式樣

	AT-1500
厚度范圍	10μm~1.5mm
重復(fù)性	0.1μ(2σ)以下(測(cè)量1nm的guage black)
樣品尺寸	小Φ10mm，大100mm (測(cè)量位置在中間部)
測(cè)量徑	約50μm
測(cè)量時(shí)間	1秒以下
裝置尺寸·重量	W300×D364×H400(mm)·20(kg) (本體部：開(kāi)發(fā)過(guò)程中可能發(fā)生變更)
電源	AC100-220V/200V

構(gòu)成圖/原理

1)構(gòu)成圖

任何人都會(huì)使用大塚電子非接觸式光學(xué)膜厚儀 Eimos進(jìn)行測(cè)量

2)原理

將光分別照射樣品上下部
測(cè)量距離基準(zhǔn)面的距離。
d=dall-(d1+d2)

比較測(cè)量方法

樣品例子和測(cè)量方法的比較

		非接觸光學(xué)膜厚儀	接觸式膜厚儀	X線式膜厚儀	変位計(jì)
樣品	凝膠片	○	×	○	○
	不織布	○	×	○	×
	金屬板	○	○	○	○
	樹(shù)脂	○	○	○	○
	多孔質(zhì)	○	△	○	×
	陶瓷	○	○	○	×
	紙?木	○	○	○	×
測(cè)量條件	測(cè)量時(shí)間	○ 高速	○	○	○
	非接觸測(cè)量	○ 非接觸	×	○	○
	前處理	○ 不要	○	×	○