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超快瞬態(tài)吸收顯微成像系統(tǒng)

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 上海波銘科學(xué)儀器有限公司
  • 品牌 其他品牌
  • 型號(hào)
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間 2025/5/6 19:29:50
  • 訪問(wèn)次數(shù) 1979

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上海波銘科學(xué)儀器有限公司成立于2013年,是一家專業(yè)從事科學(xué)儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售于一體的高科技技術(shù)企業(yè)。公司主要服務(wù)于各大高校、科研院所和高*工業(yè)客戶。主要提供光學(xué)儀器如光柵光譜儀、熒光光譜儀,膜厚測(cè)量?jī)x,探測(cè)器響應(yīng)分析儀、太陽(yáng)能電池量子效率測(cè)試系統(tǒng)等科研實(shí)驗(yàn)室儀器;及光學(xué)機(jī)械加工設(shè)計(jì),電子測(cè)量等專業(yè)的解決方案服務(wù)。公司以“專注質(zhì)量、用心服務(wù)”為核心價(jià)值。希望通過(guò)我們的專業(yè)水平和不懈努力,力爭(zhēng)為中國(guó)的科研及精密制造事業(yè)貢獻(xiàn)一股力量。

上海波銘科學(xué)儀器公司為美國(guó)理波公司(Newport)、日本大塚(Otsukael)正式代理商。配有專業(yè)光學(xué)技術(shù)人員,專注于光學(xué)儀器市場(chǎng)的開(kāi)發(fā)和應(yīng)用,已經(jīng)為復(fù)旦大學(xué)、上海交通大學(xué)、上海科技大學(xué)、南京大學(xué)、中國(guó)科技大學(xué)、北京大學(xué)、清華大學(xué)、聯(lián)影醫(yī)療、思特威電子等用戶提供專業(yè)的服務(wù)。

公司成立多年來(lái),我們一直秉承以用戶需求為核心,在專注光學(xué)等核心技術(shù)市場(chǎng)的同時(shí),已經(jīng)為超過(guò)一百家高??蒲性核推髽I(yè)提供了成套和部分的解決方案服務(wù)。優(yōu)質(zhì)、用心的服務(wù)贏得了眾多用戶的信賴和好評(píng)。公司不僅僅提供專業(yè)的光學(xué)解決方案服務(wù),同時(shí)還建立了完善的售后服務(wù)體系。我們相信,通過(guò)我們的不斷努力和追求,一定能夠?qū)崿F(xiàn)與高校、企業(yè)、科研院所的互利共贏!






光學(xué)測(cè)試系統(tǒng);光源/激光器;光譜儀;光電探測(cè)器;電子數(shù)據(jù)采集器;光學(xué)平臺(tái);電動(dòng)位移臺(tái);手動(dòng)位移臺(tái);調(diào)整架;光學(xué)元件

超快瞬態(tài)吸收顯微成像系統(tǒng)

該系統(tǒng)設(shè)計(jì)與奧林巴斯倒置顯微鏡和高速CMOS相機(jī)相結(jié)合,用于檢測(cè)微納樣品的光激發(fā)載流子動(dòng)力學(xué)可視化過(guò)程;同時(shí)具備微區(qū)瞬態(tài)反射(透射)光譜和動(dòng)力學(xué)測(cè)試功能。系統(tǒng)同時(shí)具備超快時(shí)間分辨(飛秒)和最高500nm的空間分辨能力。


主要技術(shù)指標(biāo)

微區(qū)光譜探測(cè)范圍400-1500nm
檢測(cè)模式透射/反射/微區(qū)/成像
最高空間分辨率500nm
最高時(shí)間分辨率1.5倍激光脈寬
時(shí)間窗口8ns
成像波段范圍400-800nm
成像像素點(diǎn)640×480
零點(diǎn)前信噪比≤0.2mOD
設(shè)備拓展性可拓展常規(guī)樣品室,實(shí)現(xiàn)380-1650nm瞬態(tài)吸收光譜測(cè)試
可與低溫恒溫器、探針臺(tái)、電學(xué)調(diào)控裝置和外部磁體耦合
應(yīng)用實(shí)例1 – 微區(qū)透射測(cè)試
實(shí)驗(yàn)條件
激發(fā)光波長(zhǎng)515nm掃描延遲時(shí)間點(diǎn)數(shù)159
物鏡倍數(shù)50X掃描次數(shù)3次
每點(diǎn)積分時(shí)間1.2s總測(cè)試時(shí)間9min45s
超快瞬態(tài)吸收顯微成像系統(tǒng)
應(yīng)用實(shí)例2 – 微區(qū)反射測(cè)試
實(shí)驗(yàn)條件
激發(fā)光波長(zhǎng)515nm掃描延遲時(shí)間點(diǎn)數(shù)59
物鏡倍數(shù)50X掃描次數(shù)3次
每點(diǎn)積分時(shí)間1.2s總測(cè)試時(shí)間9min45s
超快瞬態(tài)吸收顯微成像系統(tǒng)
應(yīng)用實(shí)例3 – 寬場(chǎng)TA成像
實(shí)驗(yàn)條件
激發(fā)光波長(zhǎng)515nm采集頻率1K赫茲
探測(cè)光波長(zhǎng)660nm單幅照片積分時(shí)間1s
樣品名稱單層WS2(基底:藍(lán)寶石)掃描點(diǎn)數(shù)159
物鏡倍數(shù)50X掃描次數(shù)5次
探測(cè)尺寸30X45微米總測(cè)試時(shí)間16min
超快瞬態(tài)吸收顯微成像系統(tǒng)
應(yīng)用實(shí)例4-載流子擴(kuò)散成像
實(shí)驗(yàn)條件
激發(fā)光波長(zhǎng)400nm單幅照片積分時(shí)間6 s
探測(cè)光波長(zhǎng)650nm掃描點(diǎn)數(shù)109
樣品名稱Bi202Se單晶掃描次數(shù)1次
物鏡倍數(shù)50X總測(cè)試時(shí)間11min
超快瞬態(tài)吸收顯微成像系統(tǒng)




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