EMD-625E ESD微型器件兼容性測(cè)試機(jī)臺(tái)
- 公司名稱 上海途哲電子設(shè)備有限公司
- 品牌 TET
- 型號(hào) EMD-625E
- 產(chǎn)地 日本
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2025/5/15 14:27:50
- 訪問(wèn)次數(shù) 1405
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靜電放電模擬器,ESD測(cè)試儀、雷擊浪涌測(cè)試儀,高低溫試驗(yàn)箱,快速溫變?cè)囼?yàn)箱,冷熱沖擊試驗(yàn)箱,恒溫恒濕試驗(yàn)箱,高速攝像機(jī),顯微鏡、掃描電鏡、第三方檢驗(yàn)檢測(cè)業(yè)務(wù)等。
應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,道路/軌道/船舶,電氣,綜合 |
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TET東京電子株式會(huì)社 ESD微型器件兼容性測(cè)試機(jī)臺(tái) EMD-625E:
本產(chǎn)品對(duì)于目視困難的微細(xì)間距DUT和微小尺寸DUT等半導(dǎo)體器件可進(jìn)行準(zhǔn)確的探測(cè)。
另外,可不用探針進(jìn)行晶圓等級(jí)的ESD試驗(yàn):
1.適合各種形狀的樣品。
2.理想的微型器件ESD測(cè)試。
3.可通過(guò)選件實(shí)現(xiàn)HBM,MM測(cè)試。
4.HBM測(cè)試最高8KV。
ESD 模擬器
·MR/GMR頭
·小零件、芯片
·LCD 板
·TR、IC 二極管等
·LCD 板·小模塊
·PC 板功率,信號(hào) Pins
·lC 卡、Memory 卡
通用指標(biāo)
·測(cè)試 pin: 單 pin
·滿足標(biāo)準(zhǔn): JEDEC,AEC,EOS
·DC 測(cè)試功能: 最大 30V/ 1A,(最小10mV/10nA )*
·測(cè)試電壓: HBM 125V~8KV : MM 10V~2KV·ESD 脈沖數(shù): 1~10 或連續(xù)
·DUT 固定部件: IC 插孔或僅被測(cè)件
·HBM 應(yīng)用
·HBM 應(yīng)用和破壞判斷功能
·MM 應(yīng)用
·MM 測(cè)試和破壞判斷功能
詳情請(qǐng)聯(lián)系