XRF鍍層測厚儀校正片
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- 公司名稱 深圳市匯豐德科技有限公司
- 品牌 Calmetrics/美國
- 型號
- 產地
- 廠商性質 經銷商
- 更新時間 2024/3/26 13:56:41
- 訪問次數 92
產品標簽
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| 產地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 環(huán)保,生物產業(yè),能源,制藥/生物制藥,綜合 |
測厚儀標準片又名膜厚儀校準片，專業(yè)用于X射線測厚儀在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法，是測量已知厚度或組成的標準樣品，根據熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系，來得到標準曲線。以此標準曲線來測量鍍層樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質和控制成本起到了很重要的作用。
XRF鍍層測厚儀功能及應用：
檢測電子電鍍,五金電鍍,端子連接器,線路板,半導體等膜厚
可測單鍍層,雙鍍層,多鍍層,合金鍍層,不限底材。
單層:如各種底材上鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍銀,鍍錫,鍍金等
雙層:如銅上鍍鎳再鍍金,銅上鍍鎳再鍍銀,鐵上鍍銅再鍍鎳等
多層:如ABS上鍍銅鍍鎳再鍍鉻,鐵上鍍銅鍍鎳再鍍金等合金鍍層：
鐵上鍍鋅鎳,銅上鍍鎳磷等
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