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微區(qū)電化學(xué)測(cè)試系統(tǒng)

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱(chēng) 山東金歌科學(xué)儀器有限公司
  • 品牌 其他品牌
  • 型號(hào)
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間 2025/5/9 10:29:01
  • 訪問(wèn)次數(shù) 57
產(chǎn)品標(biāo)簽

實(shí)時(shí)原位非接觸

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        金歌儀器由煙臺(tái)海岸帶研究所于順洋博士創(chuàng)立,專(zhuān)注于微區(qū)電化學(xué)測(cè)試技術(shù)創(chuàng)新。公司秉持“研以致用,精益求精”理念,為眾多高校和科研院所提供專(zhuān)業(yè)的儀器設(shè)備+電極+耗材服務(wù)。我們重視基礎(chǔ)研究,堅(jiān)持自主研制+國(guó)產(chǎn)替代路線,實(shí)現(xiàn)了部組件+產(chǎn)品全部國(guó)產(chǎn)化。

        公司主要產(chǎn)品有微區(qū)電化學(xué)測(cè)試系統(tǒng)、植物根系吸收監(jiān)測(cè)儀(純國(guó)產(chǎn)NMT非損傷微測(cè)系統(tǒng))、多功能生物信號(hào)分子檢測(cè)儀、離子與分子通量檢測(cè)儀和高性能微電極等。金歌儀器將永遠(yuǎn)以客戶需求為導(dǎo)向,不斷推出創(chuàng)新性產(chǎn)品和個(gè)性化解決方案,打造一站式服務(wù)平臺(tái),為加快實(shí)現(xiàn)高水平科技自立自強(qiáng)貢獻(xiàn)智慧和力量。

NMT活體生理檢測(cè)儀、非損傷微測(cè)系統(tǒng)、耐鹽機(jī)制分析儀、NMT逆境研究工作站

應(yīng)用領(lǐng)域 化工,農(nóng)林牧漁,鋼鐵/金屬

電化學(xué)活性是材料的重要性質(zhì)之一,常規(guī)電化學(xué)方法只能獲得整個(gè)樣品表/界面上平均的電化學(xué)信息,不能反映其時(shí)間和空間的分布狀態(tài)和微尺度相互作用機(jī)制和過(guò)程。CORROSCAN 22微區(qū)電化學(xué)測(cè)試系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)了整機(jī)零部件全部國(guó)產(chǎn)化,能夠?yàn)橛脩籼峁┎牧蠘悠繁?/span>/界面體系中電化學(xué)物質(zhì)種類(lèi)及其分布、電化學(xué)動(dòng)態(tài)過(guò)程等研究的原位高分辨表征手段。幾乎所有微區(qū)電化學(xué)特征(如電流、電壓、pH、離子/分子的濃度分布等)都可以通過(guò)其中的SECM、SVP、SIETSPT等進(jìn)行量化,微陰極和微陽(yáng)極可由掃描振動(dòng)電極SVET定位和量化。

 

微區(qū)電化學(xué)測(cè)試系統(tǒng)

微區(qū)電化學(xué)測(cè)試系統(tǒng)

微區(qū)電化學(xué)測(cè)試系統(tǒng)


檢測(cè)技術(shù):掃描電化學(xué)顯微鏡(SECM)、掃描振動(dòng)電極技術(shù)(SVET)、掃描離子探針技術(shù)(SIET)、掃描分子探針技術(shù)(SPET)、掃描電壓探針技術(shù)(SVP

 

主要功能:電流密度測(cè)試、電流密度分布測(cè)試、離子濃度分布測(cè)試、離子電流測(cè)試、分子濃度分布測(cè)試、電位分布測(cè)試、電流分布測(cè)試、

 

技術(shù)參數(shù):

1.1 掃描平臺(tái)及控制系統(tǒng)

(1) 掃描范圍(XY、Z)25 mm ×25 mm ×25 mm

(2) 掃描速率:2 - 1000 μm/s

(3) 空間分辨率:≤ 1 μm

(4) 振動(dòng)幅度:0 - 100 μm

(5) 掃描模式:線掃描、面掃描

(6) USB 通信

 

1.2 電化學(xué)測(cè)量模塊(SECM、SPT)  

(1) 具有相位檢測(cè)器和差分放大器

(2) 偏置電流:1 pA

(3) 極化電壓及分辨率:±10 V/1 mV

(4) 電流分辨率:0.1 pA

(5) 電流量程:±100 mA

(6) 測(cè)量精度:±0.2%

(7) 頻率范圍:0.001 Hz - 10 KHz

(8) ADC 分辨率:24 bit

(9) 探針?lè)N類(lèi):電流、電位、Fe、Co、Ni、CrSn、PbW、MoO2

 

1.3 表面離子濃度測(cè)量模塊(SIET)

(1) 探針直徑:≤10 μm

(2) 探針?lè)N類(lèi):Cl-、Zn2+Mg2+、Cu2+Al3+、Cr3+、Pb2+Ag+、H+

 

1.4 電流密度測(cè)量模塊(SVET)  

(1) 探針直徑:≤ 10 μm

(2) 靈敏度:≤1 μA/cm2

 

1.5 表面電位測(cè)量模塊(SVP) 

(1) 探針直徑:≤10 μm

(2) 靈敏度:≤0.1 μV

 

1.6 探針定位監(jiān)測(cè)顯微鏡

(1) 攝像頭:彩色 CCD

(2) 像素: ≥1000 萬(wàn)

(3) USB 通信

 

主要應(yīng)用:表面電化學(xué)活性成像、材料表面/界面的氧化還原活性、電化學(xué)過(guò)程實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)、涂層效果分析、緩蝕劑評(píng)價(jià)、離子/分子吸附/脫附/溶解過(guò)程、微區(qū)反應(yīng)動(dòng)力學(xué)


微區(qū)電化學(xué)測(cè)試系統(tǒng)

微區(qū)電化學(xué)測(cè)試系統(tǒng)






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