納米定位平臺(tái)：光學(xué)顯微鏡

獲得快的步進(jìn)和穩(wěn)定時(shí)間以及良好的定位性能 ，Queensgate的長行程壓電樣品定位器和物鏡定位器提供了良好的分辨率、可重復(fù)性和穩(wěn)定時(shí)間。Queensgate的控制技術(shù)通常在行程較短的平臺(tái)上更能展現(xiàn)其性能，可大大縮短掃描時(shí)間。較長的行程和較短的掃描時(shí)間對(duì)諸如活細(xì)胞成像（如下圖）等多光子顯微鏡技術(shù)有很大幫助。

速度控制實(shí)現(xiàn)超快速高分辨率成像Queensgate 閉環(huán)速度控制可實(shí)現(xiàn)更快的 AFM掃描，以高達(dá)4 mm/s的光柵速度在更大的掃描區(qū)域內(nèi)捕獲高質(zhì)量（高分辨率）圖像。100x100 µm到600 x600 µm的掃描區(qū)域可以容納更大的樣品和有效載荷。此外，位置數(shù)據(jù)的線性度可捕獲高質(zhì)量的圖像，無需復(fù)雜的后處理技術(shù)來避免壓電失真或拼接效應(yīng)。

納米定位平臺(tái)：AFM掃描儀

AFM的樣本掃描儀中使用了Queensgate的高性能壓電平臺(tái)來提供亞納米級(jí)的空間分辨率。動(dòng)態(tài)性能也非常重要，因?yàn)閆軸維度適應(yīng)樣品形貌的速度越快，X和Y軸上的表面掃描速度就越快。速度是至關(guān)重要的，因?yàn)樗梢钥s短測(cè)量時(shí)間并減少可能的溫度漂移。