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SC-J3ENSCBL2M-SS傳感器質(zhì)量可靠
工業(yè)電路板維修技巧
不能過分依賴在線測(cè)試儀
1.功能測(cè)試不能代替參數(shù)測(cè)試
2. 功能測(cè)試僅能測(cè)試到器件的截止區(qū),放大區(qū)和飽和區(qū),但無法了解此時(shí)的工作頻率的高低和速度的快慢。
3. 對(duì)數(shù)字芯片而言,僅知道有高低電平的輸出變化,但無法查出它的上升和下降沿的變化速度。
4. 對(duì)于模擬芯片,它處理的是模擬的變化量。其受電路的元器件的分布,解決信號(hào)方案的不同的影響,是錯(cuò)綜復(fù)雜的。就目前的在線測(cè)試技術(shù),要解決模擬芯片在線測(cè)試是不可能的。所以,這項(xiàng)功能測(cè)試的結(jié)果,僅能供參考。
5. 大多數(shù)的在線測(cè)試議,在對(duì)于電路板上的各類芯片進(jìn)行功能測(cè)試后,均會(huì)給出“測(cè)試通過”或“測(cè)試不通過”。那么它為什么不給出被測(cè)器件是否有問題呢?這就是這類測(cè)試儀的缺撼。因?yàn)樵诰€測(cè)試時(shí),所受影響(干擾)的因素太多。要求在測(cè)試前采取不少的措施(如斷開晶振,去掉CPU和帶程序的芯片,加隔離中斷信號(hào)等等),這樣做是否均有效,值得研究。至少,目前的測(cè)試結(jié)果有時(shí)不盡人意。
6. 了解在線測(cè)試儀的讀者,均知道有這么一句行話。“在線測(cè)試時(shí)不通過的芯片不一定是損壞的;測(cè)試通過的芯片一定是沒有損壞的?!彼慕忉尀?,如器件受在線影響或抗干擾時(shí),結(jié)果可能不通過,對(duì)此不難理解。那么,是否損壞的芯片在進(jìn)行測(cè)試時(shí),均會(huì)得出“不通過”呢?回答確實(shí)不能肯定。筆者與同行均遇到過,明明芯片已損壞了(確切地說換上這個(gè)芯片板子就不工作了),但測(cè)試結(jié)果是通過的。解釋為這是測(cè)試儀自身工作原理(后驅(qū)動(dòng)技術(shù))所致。故此我們不能過分依賴在線測(cè)試儀(盡管各廠家宣傳的很玄)的作用,否則將使維修電路板的工作誤入歧途。
維修技巧之二
在無任何原理圖狀況下要對(duì)一塊比較陌生的電路板進(jìn)行維修,以往的所謂“經(jīng)驗(yàn)”就難有作為,盡管硬件功底深厚的人對(duì)維修充滿信心,但如果方法不當(dāng),工作起來照樣事倍功半。那么,怎樣做才能提高維修效呢?根據(jù)我公司進(jìn)口設(shè)備維修中心統(tǒng)計(jì)出來的資料,應(yīng)遵循以下幾個(gè)步驟、按順序有條不紊的進(jìn)行。
方法一:先看后量
使用工具:萬(wàn)用表、放大鏡
當(dāng)手拿一塊待修的電路板,良好的習(xí)慣首先是應(yīng)對(duì)其進(jìn)行目測(cè),必要時(shí)還要借助放大鏡,看什么呢?
主要看:
1、是否有斷線;
2、分力元件如電阻、電解電容、電感、二極管、三極管等時(shí)候存在斷開現(xiàn)象;
3、電路板上的印制板連接線是否存在斷裂、粘連等;
4、是否有人修過?動(dòng)過哪些元器件?是否存在虛焊、漏焊、插反等操作方面的失誤;
在確定了被修無上述狀況后,首先用萬(wàn)用表測(cè)量電路板電源和地之間的阻值,通常電路板的阻值都在70-80?以上,若阻值太小,才幾個(gè)或十幾個(gè)歐姆,說明電路板上有元器件被擊穿或部分擊穿,就必須采取措施將被擊穿的元器件找出來。具體辦法是給被修板供電,用手去摸電路板上各器件的
溫度,燙手的講師重點(diǎn)懷疑對(duì)象。若阻值正常,用萬(wàn)用表測(cè)量板上的阻、二極管、三極管、場(chǎng)效應(yīng)管、撥段開關(guān)等分力元件,其目的就是首先要確保測(cè)量過的元件是正常的,我們的理由是,能用萬(wàn)用表解決的問題,就不要把它復(fù)雜化。
方法二:先外后內(nèi)
使用工具:電路在線維修儀
如果情況允許,是找一塊與被維修板一樣的好板作為參照,然后使用一起的雙棒VI曲線掃描功能對(duì)兩塊板進(jìn)行好、壞對(duì)比測(cè)試,起始的對(duì)比點(diǎn)可以從端口開始,然后由表及里,尤其是對(duì)電容的對(duì)比測(cè)試,可以彌補(bǔ)萬(wàn)用表在線難以測(cè)出是否漏電的缺憾。
方法三:先易后難
使用工具:電路在線維修儀、電烙鐵、記號(hào)筆
為提高測(cè)試效果,在對(duì)電路板進(jìn)行在線功能測(cè)試前,應(yīng)對(duì)被修板做一些技術(shù)處理,以盡量削弱各種干擾對(duì)測(cè)試進(jìn)程帶來的負(fù)面影響。具體措施是:
1、測(cè)試前的準(zhǔn)備
將晶振短路,對(duì)大的電解電容要焊下一條腳使其開路,因?yàn)殡娙莸某浞烹娡瑯右材軒砀蓴_。
2、采用排除法對(duì)器件進(jìn)行測(cè)試
對(duì)器件進(jìn)行在線測(cè)試或比較過程中,凡是測(cè)試通過(或比較正常)的器件,請(qǐng)直接確認(rèn)測(cè)試結(jié)果,以便記錄;對(duì)測(cè)試未通過(或比較超差)的,可再測(cè)試一遍,若還是未通過,也可先確認(rèn)測(cè)試結(jié)果,就這樣一直測(cè)試下去,直到將板上的器件測(cè)試(或比較)完,然后再回過頭來處理那些未通過測(cè)試(或比較超差)的器件。對(duì)未通過功能在線測(cè)試的器件,儀器還提供了一種不太正規(guī)卻又比較實(shí)用的處理方法,由于儀器對(duì)電路板的供電可以通過測(cè)試夾施加到器件相應(yīng)的電源與地腳,若對(duì)器件的電源腳實(shí)施刃割,則這個(gè)器件將脫離電路板供電系統(tǒng),這時(shí)再對(duì)該器件進(jìn)行在線功能測(cè)試,由于電路板上的其他器件將不會(huì)再起干擾作用,實(shí)際測(cè)試效果等同于“準(zhǔn)離線”,測(cè)準(zhǔn)率將獲得很大提高。
3、用ASA-VI曲線掃描測(cè)試對(duì)測(cè)試庫(kù)尚未涵蓋的器件進(jìn)行比較測(cè)試
由于ASA-VI智能曲線掃描技術(shù)能適用于對(duì)任何器件的比較測(cè)試,只要測(cè)試夾能將器件夾住,再有一塊參照板,通過對(duì)比測(cè)試,同樣對(duì)器件具備較強(qiáng)的故障偵測(cè)能力。該功能彌補(bǔ)了器件在線功能測(cè)試要受制于測(cè)試庫(kù)的不足,拓展了儀器對(duì)電路板故障的偵測(cè)范圍。現(xiàn)實(shí)中往往會(huì)出現(xiàn)無法找到好板做參照的情景,而且待修板本身的電路結(jié)構(gòu)也無任何對(duì)稱性,在這種情況下,ASA-VI曲線掃描比較測(cè)試功能起不了作用,而在線功能測(cè)試由于器件測(cè)試庫(kù)的不,無法完成對(duì)電路板上每一個(gè)器件都測(cè)試一遍,電路板依然無法修復(fù),這兒就是電路在線維修儀的局限,就跟沒有包治百病的藥一樣。
方法四:先靜后動(dòng)
由于電路在線維修儀目前只能對(duì)電路板上的器件進(jìn)行功能在線測(cè)試和靜態(tài)特征分析,是否修好必須要經(jīng)過整機(jī)測(cè)試檢驗(yàn),因此,在檢驗(yàn)時(shí)先檢查一下設(shè)備的電源是否按要求正確供給到電路板上。
SC-J3ENSCBL2M-SS傳感器質(zhì)量可靠
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SC-J3ENCBL10M-A2-SS | HG-JR801B |
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