納米粒度及Zeta電位儀
參考價(jià) | ¥800-¥500000/件 |
- 公司名稱 廈門搏仕檢測(cè)設(shè)備有限公司
- 品牌LIBOSHI/力搏仕
- 型號(hào)
- 所在地廈門市
- 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間2025/5/27 17:18:44
- 訪問(wèn)次數(shù) 43
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差示掃描量熱儀、熱重分析儀、激光粒度儀,鹵素快速水分儀,電子密度計(jì),霍爾流速計(jì),自然堆積密度計(jì),萬(wàn)能拉力試驗(yàn)機(jī),在線密度計(jì),模擬環(huán)境試驗(yàn)箱
產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 10萬(wàn)-30萬(wàn) |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
納米粒度及Zeta電位儀通過(guò)激光器發(fā)射光束照射納米顆粒,顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)導(dǎo)致散射光強(qiáng)度隨時(shí)間波動(dòng)。檢測(cè)器(如雪崩光電二極管)采集90°散射光信號(hào),通過(guò)自相關(guān)函數(shù)分析光強(qiáng)波動(dòng)頻率,推導(dǎo)出顆粒的擴(kuò)散系數(shù),再根據(jù)斯托克斯-愛(ài)因斯坦方程計(jì)算粒徑分布:
d=3πηDkT
其中,d為粒徑,k為玻爾茲曼常數(shù),T為溫度,η為溶液黏度,D為擴(kuò)散系數(shù)
部分儀器結(jié)合SLS技術(shù),通過(guò)測(cè)量不同角度的散射光強(qiáng)度,進(jìn)一步驗(yàn)證顆粒尺寸及分子質(zhì)量。
二、Zeta電位測(cè)量原理
納米粒度及Zeta電位儀在電場(chǎng)作用下,帶電顆粒發(fā)生電泳遷移。儀器通過(guò)檢測(cè)顆粒的遷移速度(通常利用12°檢測(cè)器采集散射光信號(hào)),結(jié)合相位分析光散射技術(shù)(PALS)計(jì)算電泳遷移率,再通過(guò)亨利方程轉(zhuǎn)換為Zeta電位。
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Zeta電位反映顆粒表面剪切面的電勢(shì)差,其數(shù)值與膠體穩(wěn)定性直接相關(guān):絕對(duì)值越高,體系越穩(wěn)定。
納米粒度分析儀是一種用于測(cè)量顆粒尺寸和分布的儀器,通常使用光學(xué)顯微鏡或電子顯微鏡進(jìn)行圖像采集,再通過(guò)專門的軟件進(jìn)行分析。
2. 使用步驟
1)將樣品放入分析儀中,并設(shè)置所需的參數(shù)。
2)進(jìn)行圖像采集,獲取樣品的顆粒圖像。
3)利用軟件進(jìn)行粒度分析,測(cè)量顆粒的大小、形狀、分布等參數(shù)。
ζ=ε?f(κa)μη
其中,ζ為Zeta電位,μ為電泳遷移率,ε為介電常數(shù),f(κa)為亨利函數(shù)(與顆粒形狀和雙電層厚度相關(guān))。