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GWXRD-01型硅片衍射高溫測試實驗裝置

參考價 555
訂貨量 ≥1
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 如皋市原野勘察機(jī)械廠
  • 品牌 其他品牌
  • 型號
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時間 2025/5/30 16:34:30
  • 訪問次數(shù) 23
產(chǎn)品標(biāo)簽

硅片衍射高溫測試實驗裝置

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如皋市原野勘察機(jī)械廠成立于2013-09-30,經(jīng)營者為李丹,資金數(shù)額為20萬元,統(tǒng)一社會信用代碼為92320682MA1NCRA7X2,經(jīng)營場所位于如城街道新北商城D1幢02室,所屬行業(yè)為專用設(shè)備制造業(yè),經(jīng)營范圍包含:勘察機(jī)械、儀器生產(chǎn)、加工、銷售;勘察儀器、小五金、勘察配件銷售;自營和代理各類商品及技術(shù)的進(jìn)出口業(yè)務(wù)(國家限定企業(yè)經(jīng)營或禁止進(jìn)出口的商品和技術(shù)除外)。(依法須經(jīng)批準(zhǔn)的項目,經(jīng)相關(guān)部門批準(zhǔn)后方可開展經(jīng)營活動)


主要經(jīng)營產(chǎn)品:
 
【巖土工程檢測儀】: 低應(yīng)變儀,高應(yīng)變檢測儀,靜載儀,非金屬超聲波儀,基樁動測儀,樁基動測儀.基樁跨孔檢測儀,基樁超聲波檢測儀,跨孔法超聲檢測儀,聲波透射法自動測樁儀,基樁高應(yīng)變儀,聲波儀,聲波測試儀,聲波檢測儀
【巖土工程勘察儀】:波速儀,波速測試儀,土層剪切波速測試儀,巖石波速測試儀,巖石聲發(fā)射儀,巖石直剪儀,直剪儀,野外大面積直剪儀,聲波儀,現(xiàn)場直剪儀,超磁發(fā)射震源,工程聲波CT儀,數(shù)字式全景鉆孔成像系統(tǒng)
【巖土工程原位測試儀】:旁壓儀,扁鏟側(cè)脹儀,靜力觸探儀,現(xiàn)場剪切設(shè)備,巖土電阻率測試儀,野外現(xiàn)場大剪儀,路基連續(xù)壓實監(jiān)測儀,路基壓實度監(jiān)測儀,巖土力學(xué)多功能試驗儀, 輕型動力觸探儀
【工程檢測儀】:測斜儀,基坑測斜儀,鉆孔測斜儀,分層沉降儀,剛尺沉降儀,孔斜儀,管線探測儀,地下管線儀,爆破測振儀,沉降儀,巖石點(diǎn)荷載儀,旁壓儀,扁鏟側(cè)脹儀,灌注樁成孔質(zhì)量檢測儀,取土器
【工程質(zhì)量結(jié)構(gòu)及混凝土技術(shù)檢測】:凝土厚度檢測儀(無需鉆孔取芯),混凝土鋼筋保護(hù)層厚度檢測儀,鋼筋位置定位儀,裂縫寬度測試儀,裂縫深度測試儀,非金屬板厚度檢測儀,工程雷達(dá),動態(tài)變形模量測試儀,手持落錘彎沉儀,靜態(tài)變形模量測試儀
【巖土工程物探儀】;高密度電法儀, 礦用鉆孔軌跡儀,鉆孔測斜儀,靜探微機(jī),圍巖松動圈測試儀,巖層探測記錄儀技術(shù)參數(shù),波速測井儀,動力觸探儀,面波儀,瑞利波測試儀,電法儀
【環(huán)??萍肌?手持太陽能檢測儀
【海洋,航空航天,地球勘探儀】:船舶艙蓋泄漏檢測儀,波紋管注漿密實度檢測儀.橋梁預(yù)應(yīng)力錨索注漿質(zhì)量檢測儀,沖擊回波測試儀,錨桿測試儀,稀土超磁致伸縮換能器
【計量與測控】:直角尺檢定儀,垂直度測量儀
【巖土路橋基坑檢測儀】: 巖石導(dǎo)熱率測試儀 ,巖石物理性多參數(shù)測試儀 ,土壤電阻率測試儀 ,雙通道基樁低應(yīng)變檢測儀 ,地震儀.面波儀,管樁成像檢測儀,巖石土力學(xué)多功能實驗儀.滲漏探測儀
【巖土實驗室檢測儀】: 三軸儀,高壓固結(jié)儀,中低壓固結(jié)儀,無限側(cè)壓縮儀,取芯機(jī),背包式取芯機(jī),液壓鉆機(jī),粗粒土滲透系數(shù)和滲透穩(wěn)定性測試系統(tǒng)
【科學(xué)研究儀】:壓電測試儀 .靜壓電系數(shù)d33/d15測量儀,探針式高溫電輸運(yùn)測量系統(tǒng) ,準(zhǔn)靜態(tài)d33/d31(+d15)測量儀
【測繪儀器】:光透過率儀,橋隧光透過率檢測儀,無線大體積混凝土測溫儀

勘察機(jī)械、儀器生產(chǎn)、加工、銷售;勘察儀器

產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 應(yīng)用領(lǐng)域 環(huán)保,能源,電子/電池,電氣,綜合

GWXRD-01型硅片衍射高溫測試實驗裝置

背景:

硅片,是一種圓形的片狀材料,其原子經(jīng)過人工重新排列,是具有晶向的高純半導(dǎo)體材料。由于硅元素在占地殼質(zhì)量的26%,所以單晶硅是目前主要的半導(dǎo)體材料。單晶硅是目半導(dǎo)體材料,占據(jù)半導(dǎo)體材料市場的90%以上,是信息技術(shù)和集成電路的基礎(chǔ)材料。         

    XRD硅片衍射高溫測實驗裝置是區(qū)別于目前常溫下對硅片進(jìn)行測試的裝置,現(xiàn)在是基于一種高溫環(huán)境下對硅片衍射提供一種更加復(fù)雜的環(huán)境即高溫條件下測試硅片的性能,是材料研究中一種變溫裝置。

主要技術(shù)參數(shù):

材質(zhì):不銹鋼材質(zhì)

溫度范圍:室溫~500℃

加熱平臺:φ200mm

平面射角:-40°≤α≤40°,射線垂面射角:-2°≤β≤70°

升溫速率<5℃/min

主測溫:熱電偶,紅外測溫(輔助)

溫度顯示/控制精度:0.1℃/0.5℃

實驗環(huán)境:腔體密閉,可充氣氛

冷卻方式:循環(huán)水冷

溫度控制:調(diào)節(jié)器精度0.2級,PID人工智能控制,50段程序

溫控軟件:中英文界面切換,實時操控,多點(diǎn)溫度校正、可設(shè)置溫速、控溫區(qū)間等,工藝曲線顯示與記錄

運(yùn)動控制儀:一軸熱臺水平移動,一軸熱臺旋轉(zhuǎn),一軸紅外測溫移動。手動或軟件操控




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