進口德國BMT WLI Lab 白光干涉儀 干涉儀

       WLI測量系統(tǒng)是為準確測量表面輪廓、粗糙度、臺階高度、微觀結(jié)構(gòu)和其它表面參數(shù)而設(shè)計，可滿足電子、汽車、制造工業(yè)的使用需求。擴展的顯微鏡模式能使用戶獲得具有以下特點的3D圖像，對圖像縮放、釘合、標記無效值、選擇視場等操作。
測量和評估軟件可自動測量，用戶可從表面圖像中選取和處理輪廓線。

進口德國BMT WLI Lab 白光干涉儀 干涉儀 干涉儀的主要用途：
◆ 粗糙和光滑表面的顯微研究和測試
◆ 產(chǎn)品凸凹結(jié)構(gòu)圖
◆ 可根據(jù)特殊用途定制

的主要特點：
◆ 實現(xiàn)對光滑和粗糙表面測量
◆ 不用訂合可達到測量區(qū)域為1cm2
◆ 具有快速物鏡切換功能
◆ 橫向分辨率可達1um，垂直分辨率zui高可到1nm
◆ 測量結(jié)果與色彩和材料無關(guān)
◆ 能實現(xiàn)秒級的快速測量

的主要優(yōu)點：
◆ 表面結(jié)構(gòu)的快速分析
◆ 測量結(jié)果與材料表面性能無關(guān)
◆ 自動數(shù)據(jù)采集和評估

的技術(shù)數(shù)據(jù)：
光源：LED
測量范圍（µm）：100/150

垂直分辨率（nm）：＜1
橫向分辨率（µm）：≥0.2

光圈：0.95

測量面積（µm）：90*70

圖像尺寸（Pixel）：1280*1024

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