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　　顆粒大小形狀分析儀采用錄像同道技術(shù)，在1-5微米的粒徑范圍內(nèi)呈現(xiàn)2D的顆粒動(dòng)態(tài)尺寸和形狀。獲取的顆粒圖像由強(qiáng)大的圖像軟件分析和顯示，涉及到樣品顆粒的分析參數(shù)多達(dá)十幾個(gè)，這些參數(shù)設(shè)定后，軟件可自動(dòng)分析和處理顆粒圖像。
 

　　顆粒大小形狀分析儀的軟件采用友好設(shè)計(jì)，具有自動(dòng)處理顆粒圖像的能力，并可輔助優(yōu)化顆粒樣品測(cè)量。軟件算法可自動(dòng)預(yù)先編程計(jì)算所有的參數(shù)，包括條帶直徑，面積，周長(zhǎng)，圓度，長(zhǎng)寬比和其它顆粒大小形狀的分析參數(shù)。 S/W參數(shù)可單獨(dú)用于顯微鏡應(yīng)用，當(dāng)兼容的CCD相機(jī)安裝到光學(xué)顯微鏡上，獲取的圖像也可相應(yīng)分析。
 

　　顆粒大小形狀分析儀應(yīng)用場(chǎng)合：任何在線(xiàn)場(chǎng)合或非在線(xiàn)場(chǎng)合測(cè)量、工廠(chǎng)、反應(yīng)器、實(shí)驗(yàn)室、研磨、結(jié)晶、聚合、抽濾、均質(zhì)、分離、干燥、消散等過(guò)程均可使用。
 

　　顆粒大小形狀分析儀的特色：
 

　　1、顆粒大小形狀分析儀的激光通道直接決定顆粒尺寸分布(0.1-3600微米)，不需要任何假設(shè)或樣品預(yù)先了解。
 

　　2、這種*的分析技術(shù)被稱(chēng)為“Laser Obscuration Time” (激光遮蔽時(shí)間)。
 

　　3、這種直接給出顆粒大小的測(cè)量技術(shù)具有更高分辨率，更小的探測(cè)極限和更高的測(cè)量精度。
 

　　4、基于這種激光遮蔽時(shí)間技術(shù)，顆粒大小和形狀分析儀的分析結(jié)果不受顆粒的任何物理和化學(xué)特性影響.
 

　　顆粒大小形狀分析儀的高精度：
 

　　1、這種直接給出顆粒大小的測(cè)量技術(shù)具有更高分辨率，更小的探測(cè)極限和更高的測(cè)量精度。
 

　　2、顆粒大小和形狀分析儀的激光通道直接決定顆粒尺寸分布，不需要任何假設(shè)或樣品預(yù)先了解。
 

　　3、基于這種激光遮蔽時(shí)間技術(shù)，顆粒大小和形狀分析儀的分析結(jié)果不受顆粒的任何物理和化學(xué)特性影響。