Z系列:任感官自由飛揚(yáng) 帶方波技術(shù)的Z系列超聲波探傷儀集性能、快捷、專業(yè)、便攜于一身,精準(zhǔn)滿足各種苛刻需求。超越主流的性能與碩德產(chǎn)品特質(zhì)*融合,從經(jīng)歷中錘煉技巧,有勇氣挑戰(zhàn)極限。靈敏的反饋、上乘的性能,數(shù)字內(nèi)涵模擬體驗(yàn)、沒(méi)有雜波干擾的舒暢感覺(jué),它就像您的第六感官,隨您想法而動(dòng)。Z系列超聲波探傷儀更像是一款披著便攜外衣的檢測(cè)工作站,必將帶領(lǐng)您進(jìn)入檢測(cè)的更高境界。 | | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| *性能 衍射聲時(shí)技術(shù)(TOFD),二維圖像顯示,可測(cè)量缺陷高度和深度 回波編碼技術(shù)可直觀的獲得缺陷在多次回波的位置 焊縫剖面示意 美國(guó)焊接學(xué)會(huì)標(biāo)準(zhǔn)AWS D1.1/D1.5 內(nèi)置常用焊接工藝標(biāo)準(zhǔn):GB11345/JB4730 TOFD:可測(cè)缺陷高度和寬度 焊縫剖面示意 直觀分析 AWS:美國(guó)焊接學(xué)會(huì)標(biāo)準(zhǔn)AWS D1.1/D1.5 通用性能 方波激勵(lì):適用難以穿透復(fù)合材料 國(guó)內(nèi)業(yè)界的可調(diào)方波激勵(lì)技術(shù),適用于難以穿透的各種材料。可調(diào)節(jié)選項(xiàng)的高性能“方波/脈沖發(fā)生器”,實(shí)現(xiàn)與探頭的*匹配。對(duì)于聲波衰減較厲害的復(fù)合材料,鑄件,厚板尤其有效,具有的穿透力和信噪比;而對(duì)檢測(cè)薄工件和復(fù)合材料又有高的分辨率。 窄帶濾波器組(Z) 在常規(guī)寬頻帶濾波基礎(chǔ)上增加了多個(gè)常用的窄帶濾波器,信號(hào)通過(guò)與探頭匹配的窄帶濾波器,可獲得的信噪比,從而的抑制了噪聲。(達(dá)到無(wú)雜波效果) 國(guó)內(nèi)優(yōu)先達(dá)到10位高精度AD采樣 超長(zhǎng)待機(jī):10/20小時(shí),擺脫充電煩惱 高亮真彩,強(qiáng)光可見(jiàn),屏幕亮度5級(jí)可調(diào),節(jié)電環(huán)保 工業(yè)級(jí)寬溫硬件操作,軍工元器件,極低故障率 鎂鋁合金外殼,堅(jiān)固耐用,有效防止電磁干擾 功能 U盤存儲(chǔ),即插即用 USB接口可插入U盤,無(wú)需驅(qū)動(dòng),支持熱插撥,即插即用。實(shí)現(xiàn)探傷報(bào)告存儲(chǔ)、拷屏打印。 二維編碼B掃描 直觀顯示缺陷位置 探傷儀常用的二維色彩編碼B掃描功能。B掃描功能圖像式的觀察缺陷模式,能夠產(chǎn)生很好的對(duì)比效果,更便于缺陷的分析判斷。通過(guò):灰度/彩色調(diào)色板還可以自動(dòng)顯示缺陷危害程度,也可實(shí)時(shí)對(duì)比觀測(cè)A掃波形和B掃圖像 超大容量數(shù)據(jù)儲(chǔ)存:3200個(gè)數(shù)據(jù)組 探傷與高精測(cè)厚一體 5條智能DAC曲線,符合JIS和API標(biāo)準(zhǔn) 實(shí)用DGS曲線:大平底、平底孔、通孔三種參考類型 操作 常用功能一鍵直達(dá) 菜單布局合理 自動(dòng)校準(zhǔn):聲速、探頭延遲、角度/K值 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
DAC曲線 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
|
| ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
|
- TESTO/德國(guó)德圖
- 其他品牌
- KYORITSU/日本共立
- RAE/美國(guó)華瑞
- Phase/美國(guó)菲思圖
- TIME/北京時(shí)代
- AND/艾安得
- MEGGER/美國(guó)
- New Cosmos/日本新宇宙
- KIMO/法國(guó)凱茂
- RIKEN/日本理研
- TES/中國(guó)臺(tái)灣泰仕
- Multi/日本萬(wàn)用
- FLUKE/福祿克
- ELCOMETER/英國(guó)易高
- OHAUS/奧豪斯
- Helmut Fischer/德國(guó)菲希爾
- SHIMPO/新寶
- ElektroPhysik/德國(guó)EPK
- 海創(chuàng)高科
- DeFelsko/美國(guó)狄夫斯高
- SIGLENT/鼎陽(yáng)
- Hitachi/日立
- TeKtronix/美國(guó)泰克
- Faith/費(fèi)思
- Proceq/瑞士博勢(shì)
- 博世
- Kanomax/日本
- HILTI/德國(guó)喜利得
- MarCal/德國(guó)馬爾
- FLIR/菲力爾
- SENTRY/中國(guó)臺(tái)灣先馳
- 香港?,?/a>
- ROTRONIC/羅卓尼克
- RION/日本理音
- Agilent/安捷倫
- OLYMPUS/奧林巴斯
- DESCO/美國(guó)
- 英思科
- Brookfield/博勒飛
- Qnix/德國(guó)尼克斯
- Bushnell/美國(guó)博士能
- INFICON/美國(guó)
- Leica/徠卡
- OPTEX/奧普士
- BS/百試
- Kleinwachter/德國(guó)科納
- HACH/哈希
- Honeywell/霍尼韋爾
- LANDTEK/蘭泰
- KETT/日本
- Motive/中國(guó)臺(tái)灣
- CENTER/中國(guó)臺(tái)灣群特
- CEM/香港
- ION/英國(guó)離子
- 3nh/三恩時(shí)
- 麥科信
- FOERSTER/德國(guó)
- MINOLTA/日本柯尼卡美能達(dá)
- 智博聯(lián)
- KANETEC/日本強(qiáng)力