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型號 SY.74-WQL
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簡介 應(yīng)用范圍：儀器基于固體顆粒的離心沉降和光透射原理測定顆粒的粒度大小及分布，采用變速測定方式，使1次測量的粒度范圍比大于20:1。
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
| 粒度儀 | |||
| 型號 | SY.74-WQL | ||
| 圖片 |  | ||
| 簡介 | 儀器基于固體顆粒的離心沉降和光透射原理測定顆粒的粒度大小及分布，采用變速測定方式，使1次測量的粒度范圍比大于20:1。 性能指標(biāo)： 轉(zhuǎn)速范圍：600～10000r/min 光信號穩(wěn)定性：0.2%/30min 可測粒度范圍：0.01～60μm 測試準(zhǔn)確度：5％ （使用原上海測試技術(shù)研究院所提供的二氧化硅標(biāo)樣） | ||
| 北京卓川電子科技有限公司 ： 59499733 57173682 57161285 62918360 57173683 ： www.bjzcdz.com ：webmaster@bjzcdz.com |
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