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本儀器具有和倒置金相顯微鏡同樣的基本功能，除了對20-30mm高度的金屬試樣作分析鑒定外，由于符合人的日常習慣，因此更廣泛的應用于透明，半透明或不透明物質。觀察目標：大于3 微米小于20微米，比如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、LCD基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結構、痕跡，都能有很好的成像效果。LW300/LW200外置或內置攝相系統(tǒng)可以方便的連接視屏和計算機進行實時和靜動態(tài)的圖像觀察、保存和編輯、打印結合各種軟件能進行更的金相、測量、互動教學領域的需要。
產品簡介
詳細介紹
- 鏡筒：B雙目，30度傾斜
- 大視野目鏡：WF10Xф18mm
- 長工作距離平場物鏡：PL5X，PL10X，PLL40X，PL100X（oil）（S）
- 轉換器：四孔
- 總放大倍數：50X-1000X
- 載物臺：尺寸185mmX140mm，移動范圍75mmX50mm
- 聚焦鏡：可調式阿貝聚焦鏡NA1.25，孔徑光闌，濾色片座
- 調焦：粗微動同軸，升降范圍35mm，微動格值0.002mm
- 光源：反射照明鹵素燈6V20W，亮度可調
- 正交偏光裝置