冷熱沖擊試驗(yàn)箱主要用于對電子、電工產(chǎn)品以及其原器件，及其它材料在溫度急劇變化的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。設(shè)備主要通過將測試材料放在高溫與低溫瞬間變化的條件下，對產(chǎn)品的物理及其它相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否符合要求。

  　GJB 150.5-86標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了冷熱沖擊試驗(yàn)箱的沖擊試驗(yàn)方法，是制定軍用設(shè)備技術(shù)條件或產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)等技術(shù)文件相應(yīng)部分的基礎(chǔ)和選用依據(jù)。

　　GJB 150.1-86《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 總則》的規(guī)定適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

　　本標(biāo)準(zhǔn)適用于可能遇到溫度急劇變化環(huán)境的軍用設(shè)備（如飛機(jī)不控溫機(jī)艙設(shè)備，或者外掛、空投、空運(yùn)設(shè)備）。

　　本標(biāo)準(zhǔn)不適用于經(jīng)受暖空氣和太陽輻射加熱后浸入冷水承受溫度沖擊或受發(fā)動(dòng)機(jī)、壓氣機(jī)的氣體快速瞬態(tài)所引起溫度沖擊的軍用設(shè)備。