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電子連接器接觸電阻測試方法
閱讀：5066 發(fā)布時(shí)間：2011-10-31
EIA工程標(biāo)準(zhǔn)和出版物是為服務(wù)于公眾利益而制定的,它是為了消除生產(chǎn)者和購買者之間的誤解,促進(jìn)產(chǎn)品的交流和提高,并幫助購買者在zui短時(shí)間內(nèi)挑選到他所需要的滿意的產(chǎn)品﹒該標(biāo)準(zhǔn)的提出會(huì)促使EIA的成員在生產(chǎn)和銷售產(chǎn)品時(shí)遵循該標(biāo)準(zhǔn)﹐而它也可以由國內(nèi)外非EIA成員自愿使用﹒
對于推薦標(biāo)準(zhǔn)和出版物中采用的文章﹑材料﹑方法﹐EIA在選取時(shí)未考慮其內(nèi)容,故在此過程中EIA對任何所有者不承擔(dān)責(zé)任﹐對任何采用該標(biāo)準(zhǔn)的機(jī)構(gòu)也不承擔(dān)責(zé)任﹒
電子工業(yè)協(xié)會(huì)（EIA）工程部出版
2001年華盛頓D.C.20006，N.W. Eye大街。
1985年印刷
EIA版權(quán)所有
U.S.A印制
電子工業(yè)協(xié)會(huì)測試方法#23A
電子連接器的接觸電阻測試方法
| 此EIA推薦標(biāo)準(zhǔn)是基于電子技術(shù)委員會(huì)（IEC）的技術(shù)內(nèi)容;推薦512—2, 測試2a, 接觸電阻－毫伏測試方法,1976.它符合此IEC推薦的所有必要方面. |
電子工業(yè)協(xié)會(huì)測試方法#23A
電子連接器低等位接觸電阻測試方法
（摘自EIA建議標(biāo)準(zhǔn)654-A﹐EIA P-5.1工作組組織提出﹒）
注：此TP-23早期頒布EIA RS-364
1.0 TP-23低等位接觸電阻
2.0 目的
本方法是介紹一種在標(biāo)準(zhǔn)方法測量一配套端子，在絕緣層沒有被破壞或熔化的情況下的接觸電阻。
3.0 樣品準(zhǔn)備
3.1 測試樣品由一對配合的端子組成，如一個(gè)錫腳和一焊座﹐極性相反的相配套端子或印刷電路板和它的配合端子。
3.2 用規(guī)格中所說明的電線按圖2A所示進(jìn)行聯(lián)機(jī)﹐端子配合如圖2B所示﹒
3.3 測試樣品應(yīng)組裝成能進(jìn)行正常工作的連接器﹐不能安裝成連接器的樣品不得以任何其它方法強(qiáng)行安裝，若強(qiáng)行安裝會(huì)影響相配端子內(nèi)接觸面的強(qiáng)力。
4.0 測試方法
4.1 測試儀器
測試儀器包括﹕
4.1.1 滿偏量程至±2％或確切讀數(shù)至±10％的合適范圍的毫伏表。
4.1.2 一個(gè)低等位回路具備傳遞和準(zhǔn)確測量zui大電流100mA和zui大開路電位20 mV的能力。圖1所示的一種可行的回路（此回路輸出測試電流為1mA），對于交流測量﹐此頻率不超過2KHz﹒
4.1.3 測量可用直流或交流電進(jìn)行﹐但無論如何﹐應(yīng)當(dāng)控制直流測試。
4.2 測試步驟
4.2.1 連接測試樣品T1和T2。
4.2.2 在測試回路正方向上加電壓﹐并紀(jì)錄電壓降包括電壓Vf和電流If的極性。
4.2.3 在測試回路反方向上加電壓﹐并紀(jì)錄電壓降包括電壓Vr和電流Ir的極性。
4.2.4 接觸電阻等于正反方向壓降的差的值除以正向電流和反向電流值之和，公式如下﹕
R＝|Vf－Vr |/（|If|+| Ir |）
其中﹕ R=接觸電阻 單位﹕奧姆
Vf =正向壓降包括極性 單位﹕伏特
Vr =反向壓降包括極性 單位﹕伏特
If =正向測試電流 單位﹕安培
Ir =反向測試電流 單位﹕安培
4.2.5 預(yù)防措施
4.2.5.1 測試前或測試期間﹐測試樣品加壓不得超過20mV。
4.2.5.2 導(dǎo)線總電阻（包括接觸端和主要電阻）應(yīng)不少于100mΩ。
4.2.5.3 在任何預(yù)先狀態(tài)和環(huán)境暴露之間低壓電阻測試完成前﹐不可以中斷端子接觸。
5.0 細(xì)節(jié)說明
當(dāng)按規(guī)格進(jìn)行測試時(shí),下列細(xì)節(jié)要被說明﹕
（a） 被測樣品數(shù)目﹔
（b） 導(dǎo)線的類型和尺寸﹔
（c） 電阻的要求﹔
（d） 尺寸Y－Y（見圖2A）
6.0 參考文件
數(shù)據(jù)窗體應(yīng)包括﹕
（a）測試標(biāo)題﹔
（b）樣品描述﹔
（c）所用測試儀器﹔
（d）測試步驟﹔
（e）評估和觀測﹔
（f）測試日期和操作者姓名﹔
（g）樣品分析。