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環(huán)境溫度和壓力對(duì)紅外線氣體分析儀會(huì)產(chǎn)生哪些影響

閱讀:2449        發(fā)布時(shí)間:2012/7/20
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紅外線氣體分析儀檢測過程需要在恒定的溫度下進(jìn)行。環(huán)境溫度發(fā)生變化將直接影響紅外光源的穩(wěn)定,影響紅外輻射的強(qiáng)度,影響測量氣室連續(xù)流動(dòng)的氣樣密度,還將直接影響檢測器的正常工作。如果溫度大大超過正常狀態(tài),檢測器的輸出阻抗下降,導(dǎo)致儀器不能正常工作,甚至損壞檢測器。
紅外分析儀內(nèi)部一般有問孔裝置及超溫保護(hù)電路,即使如此,有的儀器示值特別是微量分析儀器,亦可觀察出環(huán)境溫度變化對(duì)檢測的影響,在夏季環(huán)境溫度較高時(shí)尤為明顯。在這種情況下,需改變環(huán)境溫度,設(shè)置空調(diào)是一種解決辦法。
大氣壓力即使在同一個(gè)地區(qū)、同一天內(nèi)也是有變化的。若天氣驟變時(shí),變化的幅度較大。大氣壓力的這種變化,對(duì)氣樣放空流速有直接影響。經(jīng)測量氣室后直接放空的氣樣,會(huì)隨大氣壓力的變化使氣室中氣樣的密度發(fā)生變化,從而造成附加誤差。

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