環(huán)境溫度和壓力對(duì)紅外線氣體分析儀會(huì)產(chǎn)生哪些影響
紅外分析儀內(nèi)部一般有問孔裝置及超溫保護(hù)電路,即使如此,有的儀器示值特別是微量分析儀器,亦可觀察出環(huán)境溫度變化對(duì)檢測的影響,在夏季環(huán)境溫度較高時(shí)尤為明顯。在這種情況下,需改變環(huán)境溫度,設(shè)置空調(diào)是一種解決辦法。
大氣壓力即使在同一個(gè)地區(qū)、同一天內(nèi)也是有變化的。若天氣驟變時(shí),變化的幅度較大。大氣壓力的這種變化,對(duì)氣樣放空流速有直接影響。經(jīng)測量氣室后直接放空的氣樣,會(huì)隨大氣壓力的變化使氣室中氣樣的密度發(fā)生變化,從而造成附加誤差。