用大功率的X射線照射樣品，樣品可以被激發(fā)出各種元素能量的特征熒光X射線，不同元素的特征能量各不相同，通過半導體探測器分別測量不同元素特征能量的X射線的強度，就可以進行定性分析。而樣品受激發(fā)后發(fā)射的某一元素的特征X射線強度與元素在樣品中的含量有關(guān)，因此通過建立元素與含量的數(shù)學模型后，就能對元素進行定量分析。
目前本產(chǎn)品可用于稻米、小麥、谷物、煙草等作物中的重金元素鎘（Cd）、鉛（Pb）、汞（Hg）、砷（As）、硒(Se）的快速無損檢測，其檢出限低可達0.03ppm。其2-3分鐘能進行快速篩查，測試小于15分鐘對樣品的測量，射線防護優(yōu)于國標《X射線衍射儀和熒光分析儀衛(wèi)生防護標準GBZ115-2002》，有第三方測試機構(gòu)出具儀器安全性（輻射計量）測試報告。
應用領(lǐng)域和前景
可應用于糧作物中重金屬元素的快速篩選
可應用于糧作物中重金屬元素的定量分析
可應用到米粉、米線、面食等品種的重金屬元素的檢測
可應用到茶葉、中藥材、煙葉等其他作物中的重金屬元素檢測
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