在半導體行業(yè)，老化試驗是檢驗產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性及長期性能的關鍵環(huán)節(jié)。為了確保半導體產(chǎn)品在長期使用中的穩(wěn)定工作，進行全面、持續(xù)的數(shù)據(jù)采集至關重要。GRAPHTEC數(shù)據(jù)記錄儀憑借其出色的性能，成為半導體行業(yè)老化試驗中的理想選擇。

日本圖技數(shù)據(jù)記錄儀GL260A/GL860A在半導體行業(yè)老化試驗的應用案例

老化測試

在老化測試過程中，半導體產(chǎn)品的電壓、電流、溫度等多個參數(shù)需要同時被監(jiān)測，GRAPHTEC GL260 A-CN和GL860 A系列數(shù)據(jù)記錄儀可以提供10個到最高200通道，能夠同時記錄多個參數(shù)。無論是靜態(tài)電流的監(jiān)測，還是工作電流的動態(tài)變化，GL-IV電流輸入模塊都能精準記錄。

此外，GL260 A-CN和GL860 A系列數(shù)據(jù)記錄儀標配了約8G閃存，使其能在滿足采樣速度下，能夠支持長時間的數(shù)據(jù)記錄。通過大容量存儲，測試人員無需頻繁導出數(shù)據(jù)，確保整個老化周期的連續(xù)性。長時間的數(shù)據(jù)存儲還有效避免了因數(shù)據(jù)丟失而影響測試結果的風險。

通過GRAPHTEC數(shù)據(jù)記錄儀，半導體制造商能夠?qū)崟r跟蹤產(chǎn)品在老化過程中各項性能的變化，如電流波動、溫度升高等，及時發(fā)現(xiàn)潛在的質(zhì)量問題。這為產(chǎn)品的設計改進和質(zhì)量控制提供了重要的數(shù)據(jù)支持，確保最終交付的產(chǎn)品符合高標準的質(zhì)量要求。

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