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2015
07-03薄膜測(cè)量系統(tǒng)用于測(cè)量薄膜反射率及膜層厚度
薄膜測(cè)量系統(tǒng)是專門(mén)針對(duì)半導(dǎo)體、材料、生物醫(yī)學(xué)薄膜的實(shí)驗(yàn)室分析及在線監(jiān)測(cè)開(kāi)發(fā)的,用于測(cè)量薄膜反射率及膜層厚度的綜合測(cè)量系統(tǒng)。該系統(tǒng)基于白光反射及干涉的原理來(lái)確定光學(xué)薄膜的厚度??梢酝ㄟ^(guò)對(duì)白光干涉圖樣進(jìn)行...2015
07-032015
06-242015
06-242015
06-152015
06-152015
06-032015
06-032015
05-112015
04-202015
04-09微型光纖光譜儀在過(guò)程監(jiān)測(cè)中的應(yīng)用
隨各個(gè)行業(yè)的發(fā)展,對(duì)生產(chǎn)商品的質(zhì)量指標(biāo)要求亦越來(lái)越高,尤其在化工、造紙、食品、制藥等過(guò)程行業(yè)的生產(chǎn)運(yùn)行中,需要隨時(shí)關(guān)注體系物料的變化。對(duì)于變化的運(yùn)行過(guò)程,離線的實(shí)驗(yàn)室分析結(jié)果的滯后性常迫使操作者對(duì)實(shí)時(shí)...2015
04-09Avantes光纖光譜儀在快速鉆石檢測(cè)中的應(yīng)用
隨著光譜學(xué)的發(fā)展,光譜儀在寶石的在線和離線測(cè)量方面有了越來(lái)越廣泛的應(yīng)用。尤其是微型光譜儀在寶石的在線高速測(cè)量中的應(yīng)用。通常用常規(guī)的儀器、常規(guī)的方法和經(jīng)驗(yàn)有時(shí)解決不了的問(wèn)題時(shí),就必須應(yīng)用現(xiàn)代高科技的檢測(cè)...2015
03-232015
03-202010
10-312010
10-292010
09-212010
09-212010
08-282010
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