功能特點(diǎn)
頻率范圍:頻率覆蓋范圍為 50MHz 至 13.5GHz,能夠滿足眾多 RF / 微波元件在該頻段范圍內(nèi)的特性測(cè)試需求。
內(nèi)置合成源:具有快速掃描的內(nèi)置合成信號(hào)源,可選 1Hz 頻率分辨率,即使在掃描時(shí)其穩(wěn)定度和精度也處在 10ppm 范圍(典型值),可以為被測(cè)器件提供穩(wěn)定且精確的測(cè)試信號(hào),對(duì)于窄帶或長(zhǎng)延遲器件能夠進(jìn)行精確的測(cè)量。
S 參數(shù)測(cè)量:只需單一連接,即可通過(guò)集成的開(kāi)關(guān)測(cè)試儀測(cè)量全部 4 個(gè) S 參數(shù),同時(shí)可選的固態(tài)開(kāi)關(guān)支持同時(shí)進(jìn)行正向和反向測(cè)量,并能持續(xù)更新雙端口誤差修正所需的全部 4 個(gè) S 參數(shù),提高了測(cè)量效率和準(zhǔn)確性。
矢量精度增強(qiáng):通過(guò)優(yōu)良的技術(shù)和算法,增強(qiáng)了矢量精度,能夠更精確地測(cè)量和分析被測(cè)器件的矢量特性,減少測(cè)量誤差。
時(shí)域功能:可選的時(shí)域能力可以計(jì)算并顯示響應(yīng)隨時(shí)間或距離的變化,有助于分析器件在時(shí)域上的特性,對(duì)于一些需要了解信號(hào)傳播延遲、反射等時(shí)間相關(guān)特性的應(yīng)用非常有幫助。
高效測(cè)試功能:具備合格 / 不合格測(cè)試功能,可直接輸出打印機(jī) / 繪圖儀結(jié)果,擁有高級(jí)標(biāo)記功能和保存 / 調(diào)用測(cè)試配置等,能夠顯著提高生產(chǎn)效率和測(cè)試工作的便利性。
獨(dú)立顯示通道:擁有兩個(gè)獨(dú)立的顯示通道,可同時(shí)測(cè)量反射和傳輸特性,方便用戶同時(shí)觀察和比較不同參數(shù)的測(cè)量結(jié)果,更好地分析器件的性能。
- Agilent/安捷倫
- KEYSIGHT/美國(guó)是德
- 其他品牌
- TeKtronix/美國(guó)泰克
- R&S/羅德與施瓦茨
- EXFO/加拿大
- FLUKE/福祿克
- Santec/日本
- Anritsu/安立
- Keithley/美國(guó)吉時(shí)利
- YOKOGAWA/日本橫河
- SRS/斯坦福
- HP/惠普
- ADCMT/愛(ài)德萬(wàn)
- FUJIKURA/藤倉(cāng)
- Newport/美國(guó)
- 美國(guó)力科
- HIOKI/日本日置
- SUMITOMO/住友
- LitePoint/萊特波特
- Ceyear/思儀
- OLYMPUS/奧林巴斯
- 古河蓄電池
- KIKUSUI/日本菊水
- BCHP/中惠普
- Bristol/美國(guó)
- RIGOL/普源
- SHIMADZU/島津
- ITECH/艾德克斯
- General Photonics
- Bruker/布魯克
- SPIRENT/思博倫
- GWINSTEK/中國(guó)臺(tái)灣固緯
- SIGLENT/鼎陽(yáng)
- YINUO/一諾儀器
- Thorlabs
- Waters/沃特世
- PICOTEST/中國(guó)臺(tái)灣儀鼎
- UNI-T/優(yōu)利德
- Ophir
- BIRD/美國(guó)鳥(niǎo)牌
- Chroma/致茂
- KEYENCE/基恩士
- AMETEK/阿美特克
- ESPEC/愛(ài)斯佩克
- OMRON/歐姆龍
- SPECTRUM/上海光譜
- 中國(guó)臺(tái)灣博計(jì)
- EEC/中國(guó)臺(tái)灣華儀
- Siemens/西門(mén)子
- AP(Audio Precision)/美國(guó)
- 同惠電子
- HAMEG/德國(guó)惠美
- Nikon/日本尼康
- Hitachi/日立
- TDK-LAMBDA/日本
- OceanOptics/海洋光學(xué)
- 常州安柏
- NOISEKEN
- 盛普 SP
- DEIF/丹麥
- Quantum Opus