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產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
廠家商品識(shí)別代碼：K012-11060 |
一、CS310電化學(xué)工作站產(chǎn)品自述
CS電化學(xué)工作站自研發(fā)以來確定主要由高速M(fèi)CU、高精度FET集成電路組成，內(nèi)置DDS數(shù)字信號(hào)合成器、高功率恒電位/恒電流儀、雙通道相關(guān)分析器和雙通道高速16bit/高精度24bit AD轉(zhuǎn)換器。能完成線性掃描伏安（LSV）、循環(huán)伏安（CV）、階梯波循環(huán)伏安（SCV）、方波循環(huán)伏安（SWV）、差分脈沖伏安（DPV）和常規(guī)脈沖伏安（NPV）以及差分常規(guī)脈沖伏安（DNPV）等電分析方法；還可以完成恒電流（位）極化、動(dòng)電位（流）掃描、任意恒電流（位）方波、多恒電流（位）階躍、零電阻電流計(jì)、電化學(xué)噪聲（電偶電流）、電化學(xué)阻抗（EIS）等電化學(xué)測(cè)試等功能，所有測(cè)量功能均可定時(shí)自動(dòng)進(jìn)行，用于無人值守下的自動(dòng)測(cè)量。
CS包括多種型號(hào)，可用于較大電流和較高槽壓的電化學(xué)測(cè)量和應(yīng)用，例如電池、電分析、腐蝕、電解、電鍍等。儀器的電流輸出范圍為±2A，槽壓為±21V。電壓控制范圍：±10V；電流控制范圍：±2.0A；電流測(cè)量下限為10pA。
CorrTest測(cè)試軟件是CS制造的控制平臺(tái)，軟件基于Windows98/2000/XP操作系統(tǒng)，并遵守Windows軟件設(shè)計(jì)規(guī)則，易于安裝和使用。軟件包括文件管理、實(shí)驗(yàn)方法管理、多坐標(biāo)圖形顯示和縮放、數(shù)據(jù)/圖形的存貯/打印以及交互式幫助等。軟件具有良好的用戶界面，命令窗口所用的詞匯與通用的電化學(xué)術(shù)語保持*，全中文菜單和界面，方便用戶的教學(xué)和科研工作。
CorrTest測(cè)試軟件還具有特別針對(duì)材料和腐蝕電化學(xué)的實(shí)驗(yàn)方法，包括鈍化曲線自動(dòng)或人工反掃，電化學(xué)再活化法，溶液電阻（IR降）測(cè)量和補(bǔ)償法。Corrtest分析軟件則具有完善的數(shù)據(jù)分析功能，可對(duì)伏安曲線進(jìn)行數(shù)字平滑、積分、微分運(yùn)算，能對(duì)極化曲線進(jìn)行電化學(xué)參數(shù)解析，包括極化電阻Rp，Tafel斜率ba，bc，腐蝕電流密度icorr，腐蝕速率計(jì)算等，還可計(jì)算噪聲電阻Rn和功率譜，并可將圖形以矢量方式拷貝到Microsoft Word文檔中。
CS全部采用USB2.0接口與計(jì)算機(jī)通訊，設(shè)備安裝簡單，即插即用。
二、CS310應(yīng)用領(lǐng)域
Ø 研究電化學(xué)機(jī)理；物質(zhì)的定性定量分析。
Ø 常規(guī)電化學(xué)測(cè)試，包括電合成、電沉積（電鍍）性能評(píng)價(jià)。
Ø 功能和能源材料（電池、超級(jí)電容器、納米材料、生物傳感器等）的機(jī)理和制備研究。
Ø 緩蝕劑、水質(zhì)穩(wěn)定劑、涂層以及陰極保護(hù)效率快速評(píng)價(jià)以及氫滲測(cè)試等。
Ø 金屬材料在導(dǎo)電性介質(zhì)（包括水/混凝土/土壤等環(huán)境）中的腐蝕電化學(xué)測(cè)試。
三、CS310技術(shù)規(guī)格
硬件參數(shù)指標(biāo)
恒電位電位控制范圍 | ±10V | 恒電流控制范圍 | ±2.0A |
電位控制精度 | 0.1%*滿量程讀數(shù)±1mV | 電流控制精度 | 0.1%*滿量程讀數(shù) |
電位靈敏度 | 10μV（>100Hz） 3μV（<10Hz） | 電流靈敏度 | <10pA |
電位上升時(shí)間 | <1μs（<10mA） <10μs（<2A） | 電流量程 | 2A～200nA,共8檔 |
參比電極輸入阻抗 | 1012Ω||20pF | zui大輸出電流 | 2.0A |
槽壓 | ±21V | 電流掃描增量 | 1mA @1A/ms |
CV和LSV掃描速度 | 0.01mV～10000V/s | 電位掃描時(shí)電位增量 | 0.1mV @1V/ms |
CA和CC脈沖寬度 | 0.0001～65000s | DPV和NPV脈沖寬度 | 0.0001～1000s |
SWV頻率 | 0.001～100KHz | CV的zui小電位增量 | 0.075mV |
AD數(shù)據(jù)采集 | 16bit@1MHz，20bit @1KHz | 電流與電位量程 | 自動(dòng)設(shè)置 |
DA分辨率 | 16bit | 低通濾波器 | 8段可編程 |
建立時(shí)間 | 1μs | 接口通訊模式 | USB2.0 |
外形尺寸 | 365*305*160mm | 儀器重量 | 6.5Kg |
電化學(xué)阻抗的測(cè)量指標(biāo)
信號(hào)發(fā)生器 | |||
頻率響應(yīng) | 10μHz～115KHz（CS350/CS310） | 交流信號(hào)幅值 | 0～2500mV |
直流偏壓 | -10～ 10V | DDS輸出阻抗 | 50Ω |
波形 | 正弦波、三角波、方波 | 正弦波失真 | <1% |
掃描方式 | 對(duì)數(shù)/線性，增加/下降 | zui大負(fù)載電容 | 1nF |
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| zui大負(fù)載電感 | 10μH |
信號(hào)分析器 | |||
積分時(shí)間 | zui大值106個(gè)循環(huán)/105s zui小值10ms/一個(gè)循環(huán)的zui長時(shí)間 | 測(cè)量時(shí)間延遲 | 0～105s |
直流偏置補(bǔ)償 | |||
電位自動(dòng)補(bǔ)償范圍 | -10V～ 10V | 電流補(bǔ)償范圍 | -1～ 1A |
帶寬調(diào)整 | 自動(dòng)/手動(dòng)設(shè)置, 共8級(jí)可調(diào) |
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針對(duì)同類型號(hào)的功能說明
功 能 方 法 | CS120 | CS150 | CS300 | CS310 | CS350 | |
穩(wěn)態(tài)極化 | 開路電位測(cè)量（OCP） | l | l | l | l | l |
恒電位極化 | l | l | l | l | l | |
恒電流極化 |
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動(dòng)電位掃描（DPP） | l | l | l | l | l | |
動(dòng)電流掃描（DGP） |
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暫態(tài)極化 | 任意恒電位方波 | l | l | l | l | l |
任意恒電流方波 |
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多電位階躍（VSTEP） | l | l | l | l | l | |
多電流階躍（ISTEP） |
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計(jì)時(shí)分析 | 計(jì)時(shí)電位法（CP） |
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計(jì)時(shí)電流法（CA） |
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計(jì)時(shí)電量法（CC） |
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伏安分析 | 線性掃描伏安法（LSV） | l | l | l | l | l |
循環(huán)伏安法（CV） | l | l | l | l | l | |
階梯伏安法（SCV） |
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差分脈沖伏安法（DPV） |
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常規(guī)脈沖伏安法（NPV） |
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方波伏安法（SWV） |
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交流伏安法（ACV） |
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常規(guī)差分脈沖伏安法（DNPV） |
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二次諧波交流伏安（SHACV） |
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溶出伏安 | 恒電位溶出伏安 |
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線性溶出伏安 |
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階梯溶出伏安 |
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方波溶出伏安 |
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交流溶出伏安 |
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交流阻抗 | 電化學(xué)阻抗（EIS）～頻率掃描 |
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電化學(xué)阻抗（EIS）～時(shí)間掃描 |
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電化學(xué)阻抗（EIS）～電位掃描 |
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腐蝕測(cè)量 | 循環(huán)極化曲線（CPP） | l | l | l | l | l |
線性極化曲線（LPR） | l | l | l | l | l | |
電化學(xué)噪聲（EN） | l | l | l | l | l | |
電偶腐蝕測(cè)量（ZRA） | l | l | l | l | l | |
氫擴(kuò)散測(cè)試（HDT） |
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電池測(cè)試 | 電池充放電測(cè)試 |
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恒電流充放電 |
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恒電流間歇充放電 |
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擴(kuò)展測(cè)量 | 盤環(huán)電極測(cè)試 |
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數(shù)字記錄儀 | l | l | l | l | l | |
波形發(fā)生器 |
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圓盤電機(jī)控制 |
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注：氫滲透測(cè)試中主動(dòng)式充氫需要另行配置CS1001A精密恒流源使用/采用CS2350雙恒電位儀。
四、CS310出廠測(cè)試圖例
