本文詳細(xì)介紹了使用TA 儀器氙燈導(dǎo)熱儀DXF200 測量高導(dǎo)熱微米級(jí)薄膜樣品的面內(nèi)熱擴(kuò)散
系數(shù)的相關(guān)理論和實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)，對(duì)25 微米的石墨薄膜進(jìn)行了多次重復(fù)實(shí)驗(yàn)。通過對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品銅的
熱擴(kuò)散系數(shù)驗(yàn)證，證明了系統(tǒng)的可靠性。對(duì)石墨薄膜進(jìn)行8 次脈沖測試，實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)與理論模型擬
合度高，重復(fù)性優(yōu)異。
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