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電化學的微觀世界: 電化學顯微鏡(SECM)

閱讀:5134      發(fā)布時間:2020-3-25
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  說到微觀,人們的多數(shù)印象都是生物微觀世界,其實微觀只是用另一個角度去觀察世界,電化學也存在著微觀世界的觀察者:電化學顯微鏡(SECM)。
 
 
  關于電化學顯微鏡
 
  掃描電化學顯微鏡(縮寫SECM)是80年代末由A. J. Bard的小組提出和發(fā)展起來的一種掃描探針顯檄鏡技術。它是基于70年代末徽電極(UME)及80年代初掃描隧道顯微鏡(STM)發(fā)展而產(chǎn)生出來的一種分辨率介于普通光學顯微鏡與STM之間的電化學現(xiàn)場檢測新技術,其核心是電化學和原位檢測。
 
 
  SECM的工作原理
 
  掃描電化學顯微鏡基于電化學原理工作,可測量微區(qū)內(nèi)物質(zhì)氧化或還原所給出的電化學電流。利用驅(qū)動非常小的電極(探針)在靠近樣品處進行掃描,樣品可以是導體、絕緣體或半導體,從而獲得對應的微區(qū)電化學和相關信息,目前可達到的分辨率約為幾十納米。
  SECM的檢測信號是電流或者電位,因而具有化學反應靈敏性,不但可以研究探頭或者基底電極上的異相反應電荷轉(zhuǎn)移動力學和溶液中的均相反應動力學,甚至可以獲得界面雙電層信息,還可以原位分辨表面微區(qū)電化學不均勻性,從而彌補了掃描電鏡等不能直接提供電化學活性信息的不足,這對于腐蝕研究具有重要的意義。
 
 
  SECM在腐蝕研究的運用
 
  正如上述所說,因為SECM的特性,SECM在腐蝕中的應用日益受到重視。通常腐蝕研究體系中探針與基底電極距離通過測試逼近曲線,再根據(jù)理論*正反饋或者負反饋曲線來獲得。實際上,移動探針的步進馬達或者壓電陶瓷移動距離與真實移動距離不*一致,且在腐蝕研究體系中,逼近曲線也不全是*正反饋或者負反饋響應。因此距離控制對于SECM在腐蝕研究中的應用是基本前提。

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