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技術(shù)文章

高低溫試驗(yàn)箱之電子元器件高溫貯存試驗(yàn)的目的

閱讀:2751          發(fā)布時(shí)間:2022-4-2

     您知道嘛?我們?nèi)粘J褂玫碾娮赢a(chǎn)品在出廠(chǎng)使用之前都需要經(jīng)過(guò)高低溫試驗(yàn)箱的檢測(cè),高溫貯存試驗(yàn),濕熱腐蝕試驗(yàn),低溫貯存試驗(yàn)等等。今天,小編就和您好好的聊一聊關(guān)于電子元器件的高溫貯存試驗(yàn)的試驗(yàn)?zāi)康陌桑?/span>

高溫儲(chǔ)存的原理是在試驗(yàn)箱中模擬高溫條件,對(duì)元器件施加高溫應(yīng)力(無(wú)電應(yīng)力),加快部件體內(nèi)和表面各種物理化學(xué)變化的化學(xué)反應(yīng)速率,加速故障過(guò)程,使有缺陷的部件盡快暴露;提前消除潛在缺陷。

電子元器件做高溫貯存試驗(yàn)?zāi)康模和ㄟ^(guò)高低溫試驗(yàn)箱模擬環(huán)境溫度變化提高電子元器件環(huán)境溫度、濕度、溫度循環(huán)等適應(yīng)能力,加速元器件中可能發(fā)生或存在的化學(xué)反應(yīng)(如由水蒸汽或其他離子所引起的腐蝕作用,表面泄漏、污染以及金-鋁金屬化合物的產(chǎn)生等),提前消除潛在缺陷。電子元器件的許多故障是由于體內(nèi)和表面的各種物理化學(xué)變化引起的。當(dāng)環(huán)境溫度升高后,化學(xué)反應(yīng)速率大大加快,故障過(guò)程也得到加速。有缺陷的元器件就會(huì)暴露。高溫儲(chǔ)存試驗(yàn)對(duì)表面污染、引線(xiàn)鍵合不良和氧化層缺陷有很好的篩選作用。所以,您知道為什么電子元器件研發(fā)生產(chǎn)時(shí)要做高溫貯存試驗(yàn)了嘛?

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