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產(chǎn)品簡介
Ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數(shù)確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。
可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密Ｘ射線結構解析等各種分析。
可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密Ｘ射線結構解析等各種分析。
詳細介紹
XRD系列 X射線衍射儀 日本島津
| 易操作、多功能、多用途的X射線衍射儀的新時代！ Ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數(shù)確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。 可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密Ｘ射線結構解析等各種分析。 |  |
LabX XRD-6100
垂直型測角儀 | 配備高精度垂直型測角儀，適用于粉末、薄膜、難于固定的樣品、易溶樣品等各種樣品的測定。 |
XRD-6100具有本質安全結構。
只有門連鎖機構閉鎖時，X射線管才能開啟，具備高安全性。
配備高速運轉（1000°/min）及高精度角度重現(xiàn)性（±0.0001°）的垂直型測角儀，可進行各種樣品的測定。
驅動機構為獨立2軸驅動，可選擇θ-2θ聯(lián)動或θ、2θ軸獨立驅動，特別對薄膜測定行之有效。
備有豐富的附件（軟件/硬件）來滿足多種需要。
MAXima_X XRD-7000
高精度樣品水平型測角儀S | 配備具有0.0001°zui小步進的高精度樣品水平型測角儀。根據(jù)分析目的，可以選擇適合分析大型樣品的Ｌ型（zui大350mmφ樣品）和通用的S型。 |
XRD-7000系列配備了樣品水平型測角儀，能夠測定超大型樣品。
不但可進行定性/定量等基本分析，還可以應用于殘留奧氏體定量、環(huán)境定量、晶格常數(shù)的精密化、結晶度的計算、晶體粒徑和晶格應力的計算、晶系確定、Rietveid結構解析軟件進行的晶體結構解析。通過追加附件，還可以應用于應力測定、樣品加熱過程的分析、薄膜樣品測定等。 利用新開發(fā)的大型R-θ樣品臺，可以進行zui大350mmφ樣品全表面的自動應力成圖測定。
采用強大的多毛細管平行光束系統(tǒng)，可對應凹凸不同的樣品的分析，擴大應用范圍。
使用多毛細管平行光束系統(tǒng)的測定實例