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詳細(xì)摘要：XRF檢測儀UX-620:采用華有的FlexFp，不再受標(biāo)準(zhǔn)樣品的限制，在無標(biāo)樣的情況下直接可以測試樣品的成分含量材料實(shí)驗(yàn)室成分檢測助手：快速，準(zhǔn)確，利用X熒光快速測試原理，通過內(nèi)置的測試程序，準(zhǔn)確的測試出材料中常量和微量元素的含量，只要材料中有的就能鑒別

詳細(xì)摘要：X射線熒光鍍層測厚儀UX-700：本著對插接件等細(xì)小結(jié)構(gòu)件的單鍍層和多鍍層厚度的測量，Ux-700更專業(yè)小樣品測試腔的設(shè)計，帶有聚焦光點(diǎn)的準(zhǔn)直器，高分辨率的探測系統(tǒng)，眾多Z佳條件的選擇，保證測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。X射線熒光技術(shù)測試鍍層厚度的應(yīng)用，提高了大批量

詳細(xì)摘要：ROHS檢測光譜儀ux-210成熟的經(jīng)典分析方法：憑借國家“七·五"“九·五"科技攻關(guān)計劃之科技成果，集成近二十五年分析測試應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)的經(jīng)典數(shù)學(xué)分析模型，為測試者提供可靠、精準(zhǔn)、穩(wěn)定的分析結(jié)果。RoHS六項基礎(chǔ)檢測。用戶可方便對RoHS控制的六類物質(zhì)進(jìn)行

詳細(xì)摘要：貴金屬元素分析儀UX-620本儀器專門針對貴金屬測試，采用的科技分析X熒光光譜，對貴金屬成份進(jìn)行無損快速分析，該儀器采用Si-PIN探測器，其分辨率為149±5eV，運(yùn)用*于的基本參數(shù)法，能夠準(zhǔn)確無誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質(zhì)元素。

詳細(xì)摘要：RoHS光譜分析儀UX-220:1. 經(jīng)過優(yōu)化光路的改善，產(chǎn)品測試通道上增加到了從Cl-U的元素范圍。即可以管控RoHS指令的Pb、Cd、Hg、PBB和PBDE中的Br、六價鉻的Cr，和無鹵指令中的Cl和Br元素。 2. 配備進(jìn)口的探測器，分辨率性能*；X光管和電源經(jīng)銷款型，應(yīng)對歐盟RoHS

詳細(xì)摘要：x射線熒光光譜分析儀UX-210:高度智能化設(shè)計使操作更加簡便，輕松成為測試專家。 可根據(jù)測試情況，自動設(shè)定各操作單元動作及相關(guān)技術(shù)參數(shù)。既保證了相關(guān)器件的壽命，避免了人為操作誤差。全自動高精度背景擬合、多元回歸等解譜方法的應(yīng)用，使復(fù)雜材質(zhì)的檢測更

詳細(xì)摘要：x射線熒光光譜分析儀UX-310用戶可很方便的根據(jù)自身材質(zhì)狀況，針對性的建立風(fēng)險材料的專用工作曲線，全面提高工作曲線與被測材料的對應(yīng)性。從而大幅度提升風(fēng)險物質(zhì)的檢測精度，全面提升來料允收判定依據(jù)的可靠性。特別預(yù)置的譜圖對比功能，很方便的實(shí)現(xiàn)歷史譜

詳細(xì)摘要：本儀器專門針對貴金屬測試，采用的科技分析X熒光光譜，對貴金屬成份進(jìn)行無損快速分析，該儀器采用Si-PIN探測器，其分辨率為149±5eV，運(yùn)用*于的基本參數(shù)法，能夠準(zhǔn)確無誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質(zhì)元素，其穩(wěn)定性和可靠性均處于業(yè)內(nèi)*

詳細(xì)摘要：貴金屬元素分析儀專門針對貴金屬測試，采用的科技分析X熒光光譜，對貴金屬成份進(jìn)行無損快速分析，該儀器采用Si-PIN探測器，運(yùn)用*于的基本參數(shù)法，能夠準(zhǔn)確無誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質(zhì)元素，其穩(wěn)定性和可靠性均處于業(yè)內(nèi)*水平。

詳細(xì)摘要：思瑞手持式便攜激光掃描儀
Tango-S plus手持式便攜掃描系統(tǒng)*解決了目前行業(yè)內(nèi)的各大痛點(diǎn)，其*的紅藍(lán)激光雙模工作模式兼顧了手持式三維掃描儀的便攜靈活高效以及拍照式三維掃描儀的高分辨率、高細(xì)節(jié)度，掃描大到飛機(jī)小到一枚硬幣，都可以輕松應(yīng)對，是當(dāng)前

詳細(xì)摘要：電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀ICP-HG-8600
ICP-HG-8600作為大型精密無機(jī)分析儀器，廣泛應(yīng)用于稀土分析、貴金屬分析、有色金屬、合金材料、電子產(chǎn)品、醫(yī)藥衛(wèi)生、冶金、地質(zhì)、土壤、石油、化工、商檢、環(huán)保等部門和釹鐵硼、硅、硅鐵、鎢、鉬等，從超微量到常

詳細(xì)摘要：UX-220X射線熒光光譜分析儀屬華唯產(chǎn)品的普及機(jī)型，屬于Ux-220升級版本，具三重射線防護(hù)系統(tǒng)；人性化操作界面；綜合應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法、基本參數(shù)法V6.0分析軟件?？?RoHS/WEEE相關(guān)管控要求。精心設(shè)計的開放性工作曲線功能，特別適用于多材料的工廠制程控制。

詳細(xì)摘要：Ux-720鍍層厚度檢測儀采用了FlexFP-Multi技術(shù)，無論是生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制，還是來料檢驗(yàn)和材料性能檢驗(yàn)中的隨機(jī)抽檢和全檢，我們都會提供友好的體驗(yàn)和滿足檢測的需求。

詳細(xì)摘要：BA-100鍍層測厚儀美國博曼（Bowman）BA-100 臺式X射線熒光（XRF）鍍層測厚儀——為您提供高精度、快速簡便的鍍層厚度測量、元素分析，以及電鍍液分析。美國博曼（Bowman）分析儀器即使在客戶遇到Z嚴(yán)格的測試要求時也能夠?qū)崿F(xiàn)快速、方便、高效的XRF分析效果。

詳細(xì)摘要：美國Bowman 測厚儀 臺式X射線熒光（XRF）鍍層測厚儀——為您提供高精度、快速簡便的鍍層厚度測量、元素分析，以及電鍍液分析。美國博曼（Bowman）分析儀器即使在客戶遇到Z嚴(yán)格的測試要求時也能夠?qū)崿F(xiàn)快速、方便、高效的XRF分析效果。智能的緊湊式設(shè)計使得分析

詳細(xì)摘要：ROHS檢測分析儀UX-220經(jīng)過優(yōu)化光路的改善，產(chǎn)品測試通道上增加到了從Cl-U的元素范圍。即可以管控RoHS指令的Pb、Cd、Hg、PBB和PBDE中的Br、六價鉻的Cr，和無鹵指令中的Cl和Br元素。 配備進(jìn)口的探測器，分辨率性能*；X光管和電源經(jīng)銷款型，應(yīng)對歐盟RoHS和無鹵環(huán)

詳細(xì)摘要：X-strata 920 牛津X射線熒光鍍層測厚儀測量元素范圍：鈦Ti22---鈾U92； 測量5層（4層鍍層+底材層）鍍層，同時分析15種元素，自動修正X射線重疊譜線； 測量精度高、穩(wěn)定性好，測量結(jié)果精確至μin； 快速無損測量，測量時間短，10秒內(nèi)得出測量結(jié)果； 可分析固體

詳細(xì)摘要：LC-2010HT 高效液相色譜儀 日本島津是通過高速進(jìn)樣及多樣品處理大幅提高了分析效率的一體型智能化HPLC。如果使用自動啟動、停機(jī)功能、自動有效性功能，則可實(shí)現(xiàn)分析、管理自動化，進(jìn)一步提高了生產(chǎn)效率。另外，圖解式畫面和模塊功能使操作更為便利。

詳細(xì)摘要：高效液相色譜儀 日本島津
LC-15C 送液單元
繼承Prominence LC-20AT*性能的LC-15C，通過傳送系統(tǒng)的改進(jìn)，發(fā)揮出*的送液性能。采用浮動柱塞支持機(jī)構(gòu)，提高柱塞、柱塞密封圈的使用壽命，是耐用性出色的高性能送液單元。

詳細(xì)摘要：三重四極桿液質(zhì)聯(lián)用儀 島津通過采用創(chuàng)新的離子光學(xué)系統(tǒng)和碰撞池技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了MRM與掃描測定的高靈敏度化。LCMS-8040擴(kuò)展了LC/MS的應(yīng)用領(lǐng)域。