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什么是列陣檢測(cè)技術(shù)(MPT)?

2016-6-1  閱讀(426)

什么是列陣檢測(cè)技術(shù)(MPT)?
中文翻譯為列陣檢測(cè)技術(shù),將已證實(shí)的三角測(cè)量原理和傳統(tǒng)距離傳感器的測(cè)量功能相結(jié)合?;谶@個(gè)原理開(kāi)發(fā)的新一代的列陣檢測(cè)技術(shù)傳感器將會(huì)給廣泛的用戶群帶來(lái)了的高性能技術(shù)。
基于列陣檢測(cè)技術(shù)開(kāi)發(fā)的高性能傳感器能在短距離內(nèi)毫不費(fèi)力的掌握復(fù)雜的目標(biāo)物檢測(cè)任務(wù)。即使外界環(huán)境差異很大時(shí),智能傳感器可以高度免疫的發(fā)送極其可靠的結(jié)果—是用于短距離內(nèi)的目標(biāo)物檢測(cè)的理想的解決方案。列陣檢測(cè)技術(shù)(MPT)的功能原理
光學(xué)測(cè)距是基于三角測(cè)量的原理。 通過(guò)這種幾何學(xué)的方法,傳感器到目標(biāo)物的距離可通過(guò)三角形內(nèi)的角度變化進(jìn)行的測(cè)量。
*光源發(fā)射光束到目標(biāo)物,再由目標(biāo)物將光束反射回。反射的光束再由傳感器內(nèi)的光敏接收器接受,光敏接收器是個(gè)多像素列陣。
根據(jù)傳感器到目標(biāo)物距離的不同,反射光將形成于多像素列陣上不同的位置:如果目標(biāo)物較近,反射的角度會(huì)發(fā)生較大的改變。如果目標(biāo)物很遠(yuǎn),角度會(huì)發(fā)生細(xì)微的改變。
通過(guò)觀察反射光角度的變化和接收器上光斑的位置,可的測(cè)量目標(biāo)物到傳感器的距離。這種計(jì)算方法借助一個(gè)內(nèi)置的微處理器和相應(yīng)的復(fù)雜軟件算法。
使用激光傳感器,目標(biāo)物可從二維的角度被檢測(cè)到。檢測(cè)到的目標(biāo)物不再只是一個(gè)光斑點(diǎn),而是一條光線。這條光線被發(fā)射和投影到二維空間,以光交叉口的形式可被探測(cè)器解析。在這種情況下,一個(gè)平面的CMOS芯片可被用作探測(cè)接受器。
這種三角測(cè)量原理結(jié)合傳統(tǒng)的測(cè)量方式相可實(shí)現(xiàn)檢測(cè)到目標(biāo)物的距離,高度和寬度等信息

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