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北京金恒祥儀器有限公司

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[供應]Zeta-ASP型電位分析儀

貨物所在地:北京北京市

產(chǎn)地:美國

更新時間:2025-02-28 16:58:55

有效期:2025年2月28日 -- 2025年8月28日

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產(chǎn)地:美國
儀器簡介:
Zeta-ASP是高濃度膠體和乳液的特性參數(shù)檢測儀,可以測試:粒徑、Zeta電位、滴定、電導等。
此儀器容易使用、測量。對于高達60%(體積)濃度的樣品,也無需進行稀釋或樣品前處理,即可直接測量甚對于漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器很難測量的材料都可直接進行測量。

 結構設計緊揍,外置的Zeta電位滴定裝置(可選配)自動摘定裝置可自動、快速地判斷等電點,可快速得到佳分散劑和絮凝劑。對粒度和雙電層失真進行自動校正。該儀器的軟件易于使用,通用性強,非常適用于科研及工廠的優(yōu)化控制。 

典型應用:
綜合穩(wěn)定水泥漿,陶瓷,化學機械研磨,煤漿,涂料,化妝品,環(huán)境保護禪選法礦物富集,食品工業(yè),乳膠,微乳,混合分散體系,納米粉,無水體系,油漆成像材料。 
主要特點:
1)能分析多種分散物的混合體;
2)無需依賴Double Layer模式,地判定等電點;
3)可適用于高導電(highly conducting)體系;
4)可排除雜質及對樣品污染的干擾;
5)可測量無水體系;
6)Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術,無需先測量粒度即可進行電位測量;
7)樣品的高濃度可達60%(體積比),被測樣品無需稀釋,對濃縮膠體和乳膠可進行直接測量;
8)具有自動電位滴定功能; 
優(yōu)于光學方法的技術優(yōu)勢:
1)被測樣品無需稀釋;
2)排除雜質及對樣品污染的干擾;
3)不需定標;
4)能分析多種分散物的混合體;
5)高精度;
6)所檢側粒徑范圍款從5 nm1000um 
優(yōu)于electroactics方法的技術優(yōu)勢:
1)無需定標;
2)能測更寬的粒徑范圍;
3)無需依賴Double Layer模式
4)無需依賴( electric surface properties)電表面特牲;
5)零表面電荷條件下也可測量粒徑;
6)可適用于無水體系;
7)可適用于高導電(highly conducting)體系; 
優(yōu)于微電泳方法的技術優(yōu)勢:
1)無需稀釋,固合量高達60%;
2)可排除雜質及對樣品污染的干擾;
3)高精度(±0.1mv);
4)低表面電荷(可低0. 1mv);
5)electrosmotic flow不影響測量;
6)對流(convection)不影響測量;
7)可測量無水體系; 
技術參數(shù):
1)所檢測粒徑范圍寬:從5 nm1000um;
2)可測量參數(shù):粒度分布、固含量、Zeta電位、等電點IEP、E、電導率、PH、溫度、聲衰減;
3)Zeta電位測量范圍:+/-200 mv,低表面電荷(可低0. 1mv),高精度(±0.1mv);
4)零表面電荷條件下也可測量粒徑;
5)允許樣品濃度:0.1-60%(體積百分數(shù));
6)樣品體積:30-230ml;
7)PH范圍:0~14;
8)電導率范圍:0~10 s/m
 

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