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數(shù)字式硅晶體少子壽命測(cè)試儀/高頻光電導(dǎo)壽命測(cè)試儀(測(cè)單晶) 型號(hào):KDKLT-100C
τ:1~6000μs ρ>0.1Ω·cm太陽能硅片壽命 配已知壽命樣片、配數(shù)字示波器為解決太陽能單晶、多晶少子壽命測(cè)量,特按照國(guó)標(biāo)GB/T1553及SEMI M...高頻光電導(dǎo)壽命測(cè)試儀/高頻光電導(dǎo)少子壽命測(cè)試儀(學(xué)校用) 型號(hào):KDKLT-1
τ:10~6000μs,ρ>3Ω·cm ,配數(shù)字示波器;用于硅、鍺單晶的少數(shù)載流子壽命測(cè)量,除需要有一個(gè)測(cè)量平面外,對(duì)樣塊體形嚴(yán)格要求,可測(cè)塊狀和片狀單晶壽命。...高頻光電導(dǎo)少子壽命測(cè)試儀/高頻光電導(dǎo)壽命測(cè)試儀(生產(chǎn)用) 型號(hào):KDKLT-1B
τ:10~6000μs,ρ>3Ω·cm ,配數(shù)字示波器用于硅、鍺單晶的少數(shù)載流子壽命測(cè)量,除需要有一個(gè)測(cè)量平面外,對(duì)樣塊體形嚴(yán)格要求,可測(cè)塊狀和片狀單晶壽命。壽...數(shù)字式硅晶體載流子復(fù)合壽命測(cè)試儀/少子壽命測(cè)試儀(鑄造多晶) 型號(hào):KDKLT-200
100C型200型的的Z大區(qū)別只是紅外激光管的功率大了一倍,加了個(gè)紅外地光照破除陷進(jìn)效應(yīng)τ:1~6000μs ρ>0.1Ω·cm太陽能硅片壽命,配已知壽命樣片、...請(qǐng)輸入賬號(hào)
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