產(chǎn)品分類品牌分類
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塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化(離子遷移)評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 鐵電分析儀 高壓功率放大器 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 絕緣電阻率測(cè)試儀 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
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激光測(cè)振儀 傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
抑制傳感器電路噪音的方法介紹
抑制傳感器電路噪音的方法介紹
隨著用電設(shè)備的日益增多,出現(xiàn)了很多非線性負(fù)荷,在運(yùn)行過(guò)程中,產(chǎn)生了大量的噪聲,這種噪聲不光嚴(yán)重的影響了人們的生活。對(duì)于電力設(shè)備也有很強(qiáng)的危害,下面介紹一下怎樣抑制傳感器電路噪聲。
根據(jù)不同工作頻率合理選擇噪聲低的半導(dǎo)體元器件在低頻段,晶體管由于由于存在勢(shì)壘電容和擴(kuò)散電容等問題,噪聲較大。而結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管因?yàn)槭嵌鄶?shù)載流子導(dǎo)電,不存在勢(shì)壘區(qū)的電流不均勻問題。而且柵極與導(dǎo)電溝間的反向電流很小,產(chǎn)生的散粒噪聲很小。故在中、低頻的前級(jí)電路中應(yīng)采用場(chǎng)效應(yīng)管,不但可以降低噪聲還可以有較高的輸入阻抗。另外如果需要換晶體管等半導(dǎo)體元件,一定要經(jīng)過(guò)對(duì)比選擇,即使型號(hào)相同的半導(dǎo)體器件參數(shù)也是有差別的。同樣,電路中的碳膜電阻與金屬膜電阻的噪聲系數(shù)也是不一樣的,金屬膜電阻的噪聲比碳膜的要小,特別是在前級(jí)小信號(hào)輸入時(shí),可以考慮用噪聲小的金屬膜電阻。
根據(jù)不同的工作頻段、參數(shù)選擇適當(dāng)?shù)姆糯箅娖鳌?/p>
選擇適當(dāng)?shù)姆糯箅娖鞑粌H對(duì)本級(jí)電路有直接影響,對(duì)整個(gè)電路的工作參數(shù)、工作狀態(tài)都會(huì)產(chǎn)生重要影響。如共設(shè)組態(tài)鏈接時(shí),電路有較高的放大增益同時(shí)它的噪聲對(duì)后級(jí)的影響較小。而共集組態(tài)時(shí)有較高的輸入阻抗同時(shí)也有較好的頻響。因此根據(jù)不同的電路對(duì)參數(shù)應(yīng)有不同要求,選擇好的電路,不僅可以簡(jiǎn)化線路結(jié)構(gòu),同時(shí)也可以減少噪聲對(duì)整個(gè)電路的干擾。在電路參數(shù)允許的條件下,盡可能采用抗力較好的數(shù)字電路。