產(chǎn)品分類品牌分類
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塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化(離子遷移)評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 鐵電分析儀 高壓功率放大器 絕緣電阻率測(cè)試儀 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
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激光測(cè)振儀 傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
電子試驗(yàn)機(jī)可以測(cè)試哪些項(xiàng)目
電子試驗(yàn)機(jī)可以測(cè)試哪些項(xiàng)目
電子試驗(yàn)機(jī)可測(cè)試項(xiàng)目
(一)普通測(cè)試項(xiàng)目:
拉伸應(yīng)力 拉伸強(qiáng)度
扯斷強(qiáng)度 扯斷伸長(zhǎng)率
定伸應(yīng)力 定應(yīng)力伸長(zhǎng)率
定應(yīng)力力值 撕裂強(qiáng)度
任意點(diǎn)力值 任意點(diǎn)伸長(zhǎng)率
抽出力 粘合力及取峰值計(jì)算值
壓力試驗(yàn) 剪切剝離力試驗(yàn)
彎曲試驗(yàn) 拔出力穿刺力試驗(yàn)
(二)電子試驗(yàn)機(jī)特殊測(cè)試項(xiàng)目:
1. 性系數(shù)即彈性楊氏模量 定義:同相位的法向應(yīng)力分量與法向應(yīng)變之比。為測(cè)定材料剛性之系數(shù),其值越高,材料越強(qiáng)韌。
2. 彈性變形:除去荷重后,材料的變形消失。
3.*變形:除去荷重后,材料仍殘留變形。
4.比例限:荷重在一定范圍內(nèi)與伸長(zhǎng)可以維持成正比之關(guān)系,其zui大應(yīng)力即為比極限。
5. 彈性限:為材料所能承受而不呈*變形之zui大應(yīng)力。
6.屈服強(qiáng)度:拉伸時(shí),*伸長(zhǎng)率達(dá)到某一規(guī)定值之荷重,除以平行部原斷面積,所得之商。
7.彈簧K值:與變形同相位的作用力分量與形變之比。
8.屈服點(diǎn):材料拉伸時(shí),變形增快而應(yīng)力不變,此點(diǎn)即為屈服點(diǎn)。屈服點(diǎn)分為上下屈服點(diǎn),一般以上屈服點(diǎn)作為屈服點(diǎn)。荷重超過(guò)比例限與伸長(zhǎng)不再成正比,荷重會(huì)突降,然后在一段時(shí)間內(nèi),上下起伏,伸長(zhǎng)發(fā)生較大變化,這種現(xiàn)象叫作屈服。
9. 效彈性和滯后損失:在電子試驗(yàn)機(jī)上,以一定的速度將試樣拉伸到一定的伸長(zhǎng)率或拉伸到規(guī)定的負(fù)荷時(shí),測(cè)定試樣收縮時(shí)恢復(fù)的功和伸張時(shí)消耗的功之比的百分?jǐn)?shù),即為有效彈性;測(cè)定試樣伸長(zhǎng)、收縮時(shí)所損失的能與伸長(zhǎng)時(shí)所消耗的功之比的百分?jǐn)?shù),即為滯后損失。