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14產(chǎn)品分類品牌分類
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塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 鐵電分析儀 高壓功率放大器 絕緣電阻率測(cè)試儀 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
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激光測(cè)振儀 傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
電壓擊穿測(cè)試儀的試驗(yàn)環(huán)境
電壓擊穿測(cè)試儀的試驗(yàn)環(huán)境
（1） 常態(tài)試驗(yàn)環(huán)境：
溫度為20±5℃，相對(duì)濕度為65±5%。
（2）熱態(tài)試驗(yàn)或潮濕環(huán)境試驗(yàn)條件由產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)參照錄中表2予以規(guī)定。
（3）擊穿的判斷：
試樣沿施加電壓方向及位置有貫穿小孔、開裂、燒焦等痕跡為擊穿，如痕跡不清可用重復(fù)施加試（4）驗(yàn)電壓來判斷。
（5）試驗(yàn)的理、條件處理：
預(yù)處理：為減少試樣以往放置條件的不同而產(chǎn)生的影響，以使試驗(yàn)結(jié)果有較好的重復(fù)性和可比性。預(yù)處理?xiàng)l件可由表1選取。
表1 預(yù)處理?xiàng)l件
溫度（℃） | 相對(duì)濕度（%） | 時(shí)間（h） |
20±5 | 65±5 | ≥24 |
70±2 | ＜40 | 4 |
105±2 | ＜40 | 1 |
條件處理：試驗(yàn)前，試樣在規(guī)定的溫度下，在一定相對(duì)濕度的大氣中或浸于水（或其他液體）中，放置規(guī)定的時(shí)間后進(jìn)行試驗(yàn)，以考核材料受溫度、濕度等各種因素影響的程度。處理?xiàng)l件由表2選取。機(jī)械應(yīng)力處理?xiàng)l件和方法按產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。
表2 條件處理與試驗(yàn)環(huán)境
項(xiàng)目 | 溫度（℃） | 時(shí)間（h） | 相對(duì)濕度( % ) | 注意事項(xiàng) |
高溫處理與熱態(tài)試驗(yàn)環(huán)境 | 90±2 105±2 120±2 130±2 155±2 180±2 200±2 220±2 250±2 275±5 320±5 | ＜40可由試樣的溫度，時(shí)間與的關(guān)系曲線來確定
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| 在規(guī)定的處理?xiàng)l件下放入試樣并開始計(jì)時(shí)。 熱態(tài)試樣須在試樣溫度達(dá)到規(guī)定的溫度。 |
浸蒸餾水、沸水或其他液體處理 | 20±5 100±5
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| 0.5、1、2、4、6、8、16、24、48、96 | 在規(guī)定的處理?xiàng)l件下放入試樣并開始計(jì)時(shí)。 試樣經(jīng)浸沸水或其他高溫液體處理后取出隨即放入同類常溫液體中冷卻到溫度數(shù)20±5℃。 |
受潮處理與潮濕環(huán)境 | 20±5 | 95±3 | 0.5、1、2、3、4、8、16、24、48、96、7天或7天的整數(shù)倍 | 在規(guī)定的處理?xiàng)l件下放入試樣并開始計(jì)。 |