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塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 鐵電分析儀 高壓功率放大器 絕緣電阻率測(cè)試儀 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
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激光測(cè)振儀 傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
耐電痕化指數(shù)試驗(yàn)的影響因素和注意事項(xiàng)
耐電痕化指數(shù)試驗(yàn)的影響因素和注意事項(xiàng)
耐電痕化指數(shù)是指材料經(jīng)受50滴電解液而不出現(xiàn)電痕化的以伏特為單位的耐電壓值。試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)為GB/T 4207-2003《固體絕緣材料在潮濕條件下耐電痕指數(shù)和耐電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》。該實(shí)驗(yàn)設(shè)備的電極、試驗(yàn)電路和滴液裝置以及試驗(yàn)溶液等對(duì)試驗(yàn)結(jié)果均有重要影響。絕緣材料是否能經(jīng)受住電痕化試驗(yàn)，除與材料本身的特性相關(guān)，試驗(yàn)設(shè)備、實(shí)驗(yàn)條件、操作方法等方面也會(huì)對(duì)試驗(yàn)結(jié)果產(chǎn)生一定的影響，為了獲得實(shí)驗(yàn)結(jié)果，在進(jìn)行耐電痕化指數(shù)試驗(yàn)時(shí)需要關(guān)注以下方面的內(nèi)容：
（1）試驗(yàn)環(huán)境溫度：應(yīng)控制在23℃±5℃范圍內(nèi)；
（2）試驗(yàn)溶液電阻率確認(rèn)：應(yīng)為395Ωcm±5Ωcm；
（3）液滴大小控制：以體積監(jiān)控，1ml溶液44滴到50滴；
（4）液滴高度控制在：35mm±5mm;
（5）使用電極材料：試驗(yàn)電極材料應(yīng)為鉑金；
（6）清潔電極：電極的污染會(huì)影響試驗(yàn)結(jié)果，每次試驗(yàn)前應(yīng)清潔電極；
（7）電極壓力控制：1.0N±0.05N；
（8）電極間距控制：每次試驗(yàn)前應(yīng)檢查兩電極間的距離確保其在4mm±0.1mm范圍內(nèi)；
（9）調(diào)整電極位置：電極斜面的刃與樣品表面充分接觸，避免局部接觸；
（10）短路電流控制：1.0A±0.1A，電壓表上電壓下降值不超過10％；
（11）報(bào)警電流控制：0.5A及以上，持續(xù)2s動(dòng)作；
（12）液滴間隔控制：30s±5s;
（13）試樣的厚度：應(yīng)大于或等于3mm，對(duì)厚度小于3mm的試樣把兩塊或必要時(shí)吧多塊試樣疊起來做實(shí)驗(yàn)。