產(chǎn)品分類品牌分類
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塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化(離子遷移)評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 鐵電分析儀 高壓功率放大器 絕緣電阻率測(cè)試儀 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
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激光測(cè)振儀 傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
電位分析法的方法及原理
電位分析法是通過(guò)測(cè)量電極電位來(lái)測(cè)定電活性物質(zhì)組分的活度(濃度)的方法。它利用電極電位與試液中待測(cè)組分活度之間存在著能斯特(Nernst)關(guān)系式進(jìn)行定量分析。
或在25℃,被測(cè)組分含量很低時(shí)
式中,ψ、ψ一分別為電極電位和標(biāo)準(zhǔn)電極電位;R為摩爾氣體常數(shù),8.314 3 J/(mol·K);F為法拉第常數(shù),96 487C/mol;T為熱力學(xué)溫度,K;n為反應(yīng)的電子轉(zhuǎn)移數(shù);aox、aRed分別為電對(duì)的氧化態(tài)和還原態(tài)的活度;[Ox]、[Red]分別為電對(duì)的氧化態(tài)和還原態(tài)的濃度。
電位分析法按原理分為直接電位法和電位滴定法兩大類。前者指從能斯特方程式求得待測(cè)離子的濃度的方法;后者指根據(jù)滴定過(guò)程中電極電位變化來(lái)確定終點(diǎn),從所消耗的滴定劑體積及其濃度來(lái)計(jì)算待測(cè)物質(zhì)濃度的方法。