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塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 鐵電分析儀 高壓功率放大器 絕緣電阻率測(cè)試儀 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
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激光測(cè)振儀 傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
電壓擊穿試驗(yàn)的意義
1、按本部分得到的電氣強(qiáng)度試驗(yàn)結(jié)果，能用來(lái)檢測(cè)由于工藝變、老化條件或其他制造或環(huán)境情況而引起的相對(duì)于正常值的變化或偏離，而很少能用于直接確定在實(shí)際應(yīng)用中的絕緣材料的狀態(tài)。
2、材料的電氣強(qiáng)度測(cè)試值可受如下多種因素的影響：
2、1 試樣的狀態(tài)
a) 試樣的厚度和均勻性，是否存在機(jī)械應(yīng)力；
b) 試樣預(yù)處理，特別是干燥和浸漬過(guò)程；
c) 是否存在孔隙、水分或其他雜質(zhì)。
2、2試驗(yàn)條件
a) 施加電壓的頻率、被形和升壓速度或加壓時(shí)間；
b) 環(huán)境溫度、氣壓和濕度；
c) 電極形狀、電植尺寸及其導(dǎo)熱系數(shù)；
d) 周?chē)劫|(zhì)的電、熱特性。
2、3 在研究還沒(méi)有實(shí)際經(jīng)驗(yàn)的新材料時(shí)，應(yīng)考慮到這些有影響的因素本部分規(guī)定了一些特定的條件，以便迅速地判別材料，并可用以進(jìn)行質(zhì)量控制和類似的目的。
用不同方法得到的結(jié)果是不能直接相比的，但每一結(jié)果可提供關(guān)于材料電氣強(qiáng)度的資料。應(yīng)該指出的是，大部分材料的電氣強(qiáng)度隨著電極間試樣厚度的增加而減小，也隨著電壓施加時(shí)間的增加而減小。
2、4 由于擊穿前的表面放電的強(qiáng)度和延續(xù)時(shí)間對(duì)大多數(shù)材料測(cè)得的電氣強(qiáng)度有顯著影響，為了設(shè)計(jì)直到試驗(yàn)電壓無(wú)局部放電的電氣設(shè)備，必須知道材料擊穿前無(wú)放電的電氣強(qiáng)度，但本部分的方法通常不適用于提供這方面的資料。
2、5 具有高電氣強(qiáng)度的材料未必能耐長(zhǎng)時(shí)期的劣化過(guò)程，例如熱老化腐蝕或由于局部放電而引起化學(xué)腐蝕或潮濕條件下的電化學(xué)腐蝕或潮濕條件下的電化學(xué)腐蝕，而這些過(guò)程都會(huì)導(dǎo)致在運(yùn)行中于較低的電場(chǎng)強(qiáng)度下發(fā)生破壞。