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塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 鐵電分析儀 高壓功率放大器 絕緣電阻率測(cè)試儀 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
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激光測(cè)振儀 傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
動(dòng)態(tài)掃描測(cè)量系統(tǒng)介紹
測(cè)量動(dòng)電位極化曲線的電位掃描系統(tǒng)特征是加到恒電位儀上的基準(zhǔn)電壓隨時(shí)間呈線性變化，因此，研究電極的電位（E）也隨時(shí)間（t)線性變化。
電位掃描系統(tǒng)的工作方式有多種類型，按掃描速度可分為：
圖6.1-14 ASTM G5推薦的極化電解池示意圖
1）慢速掃描，用于穩(wěn)態(tài)和準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)極化曲線測(cè)定，慢速度為10-2mV-s；
2）快速掃描，用于暫態(tài)測(cè)量。
傳統(tǒng)的動(dòng)電位掃描測(cè)量極化曲線的測(cè)試系統(tǒng)接線圖見圖6.1-15?，F(xiàn)代化的測(cè)試系統(tǒng)則將線性掃描電位訊號(hào)發(fā)生器、恒電位儀、對(duì)數(shù)轉(zhuǎn)換器（圖中1gI)以及記錄儀等集成在一起，用計(jì)算機(jī)控制。
圖6.1-15 傳統(tǒng)的動(dòng)電位掃描測(cè)量極化曲線的測(cè)試系統(tǒng)接線圖