您好, 歡迎來到化工儀器網(wǎng)
會(huì)員.png)
14產(chǎn)品分類品牌分類
-
塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 鐵電分析儀 高壓功率放大器 絕緣電阻率測(cè)試儀 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
-
激光測(cè)振儀 傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
鐵電體的晶體極化與電場(chǎng)的關(guān)系—電滯回線
?、贅O化強(qiáng)度的取向只有兩種可能(即沿某軸的正向或負(fù)向)。
?、谠跊]有外電場(chǎng)時(shí)，晶體總電矩為0(能量*低)。
1.極化強(qiáng)度的變化
當(dāng)電場(chǎng)施加于晶體時(shí)，沿電場(chǎng)方向的電疇擴(kuò)展，變大；而與電場(chǎng)反平行方向的電疇則變小。極化強(qiáng)度隨外電場(chǎng)增加而增加，oA段曲線。
電場(chǎng)強(qiáng)度繼續(xù)增大，最后晶體電疇方向都趨于電場(chǎng)方向，類似于單疇，極化強(qiáng)度達(dá)到飽和，這相當(dāng)于圖中C附近的部分。
2.自發(fā)極化強(qiáng)度Ps
極化強(qiáng)度達(dá)到飽和后，再增加電場(chǎng)，P與E成線性關(guān)系，將這線性部分外推至E=0時(shí)的情況，此時(shí)在縱軸P上的截距稱為飽和極化強(qiáng)度或自發(fā)極化強(qiáng)度Ps。
3.剩余極化強(qiáng)度
如果電場(chǎng)自圖中C處開始降低，晶體的極化強(qiáng)度亦隨之減小。在零電場(chǎng)處，仍存在剩余極化強(qiáng)度Pr。這是因?yàn)殡妶?chǎng)減低時(shí)，部分電疇由于晶體內(nèi)應(yīng)力的作用偏離了極化方向。但當(dāng)E=0時(shí)，大部分電疇仍停留在極化方向，因而宏觀上還有剩余極化強(qiáng)度。
4.矯頑電場(chǎng)強(qiáng)度
當(dāng)電場(chǎng)反向達(dá)到-Ec時(shí)，剩余極化全部消失。
反向電場(chǎng)繼續(xù)增大，極化強(qiáng)度才開始反向。Ec常稱為矯頑電場(chǎng)強(qiáng)度。
