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塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 鐵電分析儀 高壓功率放大器 絕緣電阻率測(cè)試儀 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
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激光測(cè)振儀 傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
您知道常溫下的介電常數(shù)及損耗測(cè)量?jī)x各模塊功能嗎？
您知道常溫下的介電常數(shù)及損耗測(cè)量?jī)x各模塊功能嗎？
測(cè)試原理框圖
頻率范圍 20Hz ~ 20MHz
測(cè)試參數(shù)
電容(C), 電感(L), 電阻(R), 電導(dǎo)(G), 電納(B), 電抗(X), 損耗因數(shù)(D), 因數(shù)(Q), 阻抗(Z), 導(dǎo)納(Y), 相位角(θ)、介電常數(shù)（ε′ ??相對(duì)介電常數(shù)實(shí)部、ε′′r相對(duì)介電常數(shù)虛部、Dε相對(duì)介電損耗）、磁導(dǎo)率（μ ′ ??相對(duì)磁導(dǎo)率實(shí)部、μ′′r 相對(duì)磁導(dǎo)率虛部、Dμ相對(duì)磁導(dǎo)率損耗）
量測(cè)
電容C,電感L及阻抗Z基本精確度為±0.05%。損耗因數(shù)D精確度為±0.0005及因數(shù)Q精確度為±0.05%。
元件圖形掃描
WK6500B系列精密阻抗分析儀不僅提供高頻率，的量測(cè)。該設(shè)備還是一個(gè)包含豐富特性的元件分析儀。
曲線掃描可依據(jù)頻率、電壓值和直流偏流源同時(shí)在清晰度高的大型彩色屏幕上顯示任意兩種參數(shù)的曲線。顯示格式包括串聯(lián)或并聯(lián)等效電路。
單測(cè)某一頻率時(shí)可以從曲線掃描轉(zhuǎn)換成標(biāo)準(zhǔn)LCR表讀值模式。
可變的輸出和偏壓源
交流輸出可選高達(dá)1V或20mA，實(shí)現(xiàn)在真實(shí)操作環(huán)境中來評(píng)估元件?？勺兤珘褐绷髟纯商峁┻_(dá)100mA的電流.
外部控制
在品管或制作檔譜的過程中可通過 GPIB介面來控制儀器和收取讀值.
網(wǎng)端介面也具有同樣的控制儀器和傳輸資料的功能 – 使儀器能適應(yīng)許多不同的測(cè)試環(huán)境.
多選擇的介面
VGA介面可連接到PC顯示器或投影機(jī), 這種功能為生產(chǎn)環(huán)境或教學(xué)培訓(xùn)都提供無法衡量的價(jià)值. 本機(jī)還可通過外接鍵盤和滑鼠來操控,任何PS2或USB鍵盤和滑鼠都能簡(jiǎn)單的接插到系統(tǒng)中, 提供控制和操作儀器的另一種可行方式.
資料儲(chǔ)存和提取
的測(cè)試結(jié)果及設(shè)制都可以通過網(wǎng)路介面或USB閃盤來儲(chǔ)存.
