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新品推薦

塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電多通道極化裝置鐵電分析儀高壓功率放大器絕緣電阻率測(cè)試儀高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀電壓擊穿測(cè)定儀耐電弧試驗(yàn)儀探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
儲(chǔ)能科學(xué)與工程試驗(yàn)設(shè)備

變溫電壓擊穿試驗(yàn)儀隔膜氣密性測(cè)試系統(tǒng) 電弱點(diǎn)測(cè)驗(yàn)儀高壓漏電起痕試驗(yàn)儀閉孔破孔溫度測(cè)試儀變溫?fù)舸╇妷涸囼?yàn)儀耐電弧試驗(yàn)儀高溫絕緣電阻測(cè)試儀電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng) 低壓漏電起痕試驗(yàn)儀 50點(diǎn)耐壓試驗(yàn)儀
工程塑料絕緣測(cè)試設(shè)備

高壓漏電起痕試驗(yàn)儀- 絕緣診斷分析儀- 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái) 絕緣電阻測(cè)試平臺(tái)
改性塑料試驗(yàn)設(shè)備

電壓擊穿試驗(yàn)儀耐電弧測(cè)試儀絕緣電阻試驗(yàn)儀電弱點(diǎn)試驗(yàn)儀電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng) 高壓、低壓漏電起痕試驗(yàn)儀 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀
功能材料測(cè)試儀器

激光測(cè)振儀傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀高溫介電溫譜測(cè)試儀熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀高壓極化裝置高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀醫(yī)用接地電阻
絕緣材料測(cè)試儀器

高阻計(jì) 擊穿電壓測(cè)定儀表面體積電阻率測(cè)試儀耐電弧測(cè)試儀高壓/漏電起痕試驗(yàn)儀低壓/漏電起痕試驗(yàn)儀導(dǎo)電與防靜電材料電阻率介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀高溫直流測(cè)試系統(tǒng)
高壓功率放大器

30KV高壓功率放大器 20KV/HS高壓功率放大器 20KV高壓功率放大器 10KV/HS高壓功率放大器 HCAM-10KV高壓功率放大器 HCAM-8KV高壓功率放大器 HCAM-5KV高壓功率放大器 HCAM-1KV高壓功率放大器 HCAM-700V高壓功率放大器 HCAM-500V高壓功率放大器 HCAM-200V高壓功率放大器 HCAM-4KV高壓功率放大器 HCAM-2KV高壓功率放大器
半導(dǎo)體封裝材料測(cè)試系統(tǒng)

電場(chǎng)介電損耗，漏電流測(cè)試系統(tǒng) TSDC測(cè)試系統(tǒng) 高低溫絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng) 真空探針臺(tái)
高壓電源與高壓驅(qū)動(dòng)設(shè)備

HCHV-10S穩(wěn)壓直流-高壓直流模塊電源大功率8kV至30kV系列高壓直流模塊電源高壓極化電源高壓功率放大器
脈沖發(fā)生器

HCHV-10000脈沖發(fā)生器 HCHV-6000脈沖發(fā)生器 HCHV-3500脈沖發(fā)生器 HCHV-2000脈沖發(fā)生器 HCHV-1000脈沖發(fā)生器
高低溫環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備

高低溫烘箱小型探針臺(tái) 高低溫冷熱臺(tái)
靜電試驗(yàn)設(shè)備

高阻高壓表皮安表/飛安表靜電計(jì) 電荷量表
國(guó)標(biāo)設(shè)備

電壓擊穿測(cè)試儀耐電弧試驗(yàn)儀高壓、低壓漏電起痕表面體積電阻率（高阻計(jì)）電弱點(diǎn)試驗(yàn)儀 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀
附件及配件

變溫鐵電測(cè)試盒法拉第筒功率放大器高壓電源鐵電測(cè)試夾具高低溫絕緣電阻夾具壓電D31/D33夾具

高低溫冷熱臺(tái)設(shè)備的優(yōu)勢(shì)您知道有哪些么？

閱讀：1095 發(fā)布時(shí)間：2021/9/6

設(shè)備優(yōu)勢(shì)：

1.高速加熱與冷卻方式

　　高能量的紅外燈和鍍金反射方式允許高速加熱到高溫。同時(shí)爐體可配置水冷系統(tǒng)，增設(shè)氣體冷卻裝置，可實(shí)現(xiàn)快速冷卻。

2.溫度控制

　　近紅外鍍金聚焦?fàn)t和溫度控制器的組合使用，可以精確控制樣品的溫度(遠(yuǎn)比普通加溫方式)。此外，冷卻速度和保持在任何溫度下可提供。

3.不同環(huán)境下的加熱與冷卻

加熱/冷卻可用真空、氣氛環(huán)境、低溫(高純度惰性氣體靜態(tài)或流動(dòng))，操作簡(jiǎn)單，使用石英玻璃制成。紅外線可傳送到加熱/冷卻室。

華測(cè)HCP650-PM 是一款溫度范圍-190°C ~ 600°C溫控探針臺(tái)，可單獨(dú)使用，也可搭配顯微鏡/光譜儀使用，同時(shí)允許探針電測(cè)試、光學(xué)觀察和樣品氣體環(huán)境控制。探針臺(tái)上蓋與底殼構(gòu)成一個(gè)氣密腔，可往內(nèi)充入氮?dú)獾缺Ｗo(hù)氣體，來(lái)防止樣品在負(fù)溫下結(jié)霜，或高溫下氧化，此款冷熱臺(tái)通過(guò)杠桿式支架，使用的是彎針探針。相比傳統(tǒng)的直針探針，這種設(shè)計(jì)不僅點(diǎn)針準(zhǔn)確，而且點(diǎn)針力度大，和樣品的電接觸性勝yi籌。冷熱臺(tái)可配合KEITHLEY Keysight等國(guó)際品牌測(cè)量源表進(jìn)行電學(xué)測(cè)量。