產(chǎn)品分類品牌分類
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塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化(離子遷移)評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 鐵電分析儀 高壓功率放大器 絕緣電阻率測(cè)試儀 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
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激光測(cè)振儀 傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
靜電計(jì)的作用
靜電計(jì),又叫電勢(shì)差計(jì)或指針驗(yàn)電器,靜電計(jì)可以用來(lái)檢驗(yàn)物體所帶電荷的種類并且測(cè)量電量。其電容的大小由金屬殼的幾何尺寸的大小和金屬桿及指針的長(zhǎng)短、位置所決定。
靜電計(jì)相當(dāng)于一個(gè)電容很小的電容器,當(dāng)將靜電計(jì)的金屬球,金屬外殼分別與被測(cè)電容的兩相連時(shí),靜電計(jì)就從被測(cè)電容上獲得電荷達(dá)到與被測(cè)電容的電壓相同,因靜電計(jì)的電容很小,此過(guò)程中引起被測(cè)電容上的電荷量的變化可忽略,被測(cè)電容兩間的變化也可忽略,即靜電計(jì)上的電壓總是等于被測(cè)電容上的電壓.則靜電計(jì)所帶的電荷量q=cu正比于被測(cè)電壓,被測(cè)電壓越高,靜電計(jì)所帶電荷量越多,靜電計(jì)指針與金屬桿間的靜電斥力就越大,指針偏角就越大。利用指針偏角與被測(cè)電壓間的關(guān)系即可測(cè)靜電電壓。
主要作用:
1.定量測(cè)量?jī)蓪?dǎo)體的電勢(shì)差
2.定量測(cè)量某導(dǎo)體的電勢(shì)
3.測(cè)量直流電路中的電勢(shì)差
既然靜電計(jì)本身也是一個(gè)電容器,那么把靜電計(jì)并聯(lián)在直流電路中電勢(shì)差不為零的兩點(diǎn)時(shí),靜電計(jì)就會(huì)被充電,其指針就應(yīng)該偏轉(zhuǎn).但實(shí)際上在一般直流電路中,由于電壓較小,使靜電計(jì)所帶電荷量很小,指針的偏轉(zhuǎn)角度幾乎覺(jué)察不出來(lái).靜電計(jì)上的刻度--般是以靜伏(靜電系單位)為單位的,而1靜伏=300V.故一-般的直流電壓不能使靜電計(jì)指針有明顯偏轉(zhuǎn).如果把靜電計(jì)接在具有幾百、幾千甚至幾萬(wàn)伏電壓的直流電路中,靜電計(jì)指針就會(huì)有明顯偏轉(zhuǎn),也就可以用靜電計(jì)來(lái)測(cè)量某兩點(diǎn)間的電壓.例如把靜電計(jì)接在感應(yīng)圈的副線圈上,指針偏轉(zhuǎn)角度會(huì)忽大忽小,說(shuō)明感應(yīng)圈輸出的是不穩(wěn)定的脈動(dòng)電壓.
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