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塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 鐵電分析儀 高壓功率放大器 絕緣電阻率測(cè)試儀 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
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激光測(cè)振儀 傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
鐵電分析儀的應(yīng)用測(cè)量范圍
鐵電分析儀的應(yīng)用測(cè)量范圍
鐵電分析儀是一種用于研究和測(cè)試鐵電材料性能的精密儀器。其廣泛的應(yīng)用范圍涵蓋了從基礎(chǔ)科學(xué)研究到實(shí)際工業(yè)生產(chǎn)中的多個(gè)領(lǐng)域。以下是鐵電分析儀的主要應(yīng)用測(cè)量范圍：
鐵電系統(tǒng)主機(jī)優(yōu)勢(shì)在于他易于擴(kuò)展、實(shí)用性，軟件系統(tǒng)兼容目前主流品牌，軟件無(wú)縫切換。為用戶降低成本。
█ 介電測(cè)試分析模塊
█ 熱激發(fā)極化電流測(cè)試TSDC
█ 擊穿電壓測(cè)試
█ 高壓極化
█ 絕緣電阻測(cè)試
█ 四探針測(cè)試
█ 壓電性能測(cè)試
█ 鐵電參數(shù)測(cè)試
█ 熱釋電性能測(cè)試
█ 居里溫度測(cè)試
可擴(kuò)展部件：
可與高低溫冷熱臺(tái)、高溫測(cè)試裝置、探針臺(tái)、高壓放大器、高阻計(jì)、阻抗分析儀、 激光干涉儀、溫控控制器、數(shù)字源表等擴(kuò)展。
? 塊體測(cè)試夾具：用于厚膜、塊體鐵電、擊穿測(cè)試可擴(kuò)展變溫功能。
? 薄膜四探針探針臺(tái)：室溫到 250℃可用于厚膜鐵電、壓電（e31）、熱釋電測(cè)試。
? 薄膜寬溫區(qū)探針冷熱臺(tái)：-196℃到+600℃可用于薄膜和厚膜變溫的鐵電和熱釋電測(cè)試。
? 薄膜探針臺(tái)（國(guó)產(chǎn)）：室溫鐵電測(cè)試可用于薄膜和厚膜室溫鐵電性能測(cè)試。
Huace FE系列鐵電測(cè)試系統(tǒng)是目前市場(chǎng)上較xianjin的設(shè)備，有著寬頻率響應(yīng)范圍及寬測(cè)試電壓范圍并且在世界鐵電測(cè)試領(lǐng)域高測(cè)試精度能力shouquyizhi。在內(nèi)置±10V電壓下，電滯回線測(cè)試頻率可高達(dá)500KHz；此系統(tǒng)包含HuacePro基本鐵電管理測(cè)試軟件。