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半導(dǎo)體電阻率測試儀的技術(shù)參數(shù)

時間:2017/8/28閱讀:2216
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半導(dǎo)體電阻率測試儀是于各種半導(dǎo)體材料包括:片狀硅料、晶體、晶體等的電阻率測定的設(shè)備,測定范圍:0.01-199.99歐姆厘米,是生產(chǎn)廠家硅料分選測試的理想工具。
 
半導(dǎo)體電阻率測試儀采用通用的電流、電壓四端子測量法(兩個電流和電壓電極同時和樣品接觸),可以消除電極與導(dǎo)線導(dǎo)通電阻產(chǎn)生的誤差,克服了傳統(tǒng)的二端測量粉末電阻率儀器的弊病,可以真實地、準確地測量出粉末樣品的電阻率,因此重復(fù)性好。半導(dǎo)體電阻率測試儀測試程序控制四探針測試儀進行測量并采集測試數(shù)據(jù),把采集到的數(shù)據(jù)在計算機中加以分析,然后把測試數(shù)據(jù)以表格,圖形直觀地記錄、顯示出來。用戶可對采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看,還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到Excel中,進行各種分析。
 
半導(dǎo)體電阻率測試儀技術(shù)參數(shù):
 
電源:220V交流
可測晶片直徑(zui大)Ф100mm,方形230×220mm
恒流源:電流量程為0.01~1mA連續(xù)可調(diào),誤差≦±0.5%。
數(shù)字電壓表:量程:0.1~200mV,zui大分辨率:100μV
電阻率顯示:三位半數(shù)字顯示:小數(shù)點、極性、過載、自動顯示0.01-199.99歐姆。厘米
輸入抗阻:0.2mV和2mV量程:>108Ω
測量精度:±0.1。
zui大電阻測量誤差(按JJG508-87進行):0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω≤±5%讀數(shù)±2個字。
重摻檢測誤差(JJG508-87進行):1Ω≤±1%、0.5Ω≤±0.5%、0.1Ω≤±0.1%
測量環(huán)境:溫度23±2℃,相對濕度≤65%

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