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ICP質(zhì)譜儀的優(yōu)勢(shì)與特點(diǎn)都在這里
ICP質(zhì)譜儀是一種分離和檢測(cè)不同同位素的分析儀器，它用高能電子流等轟擊樣品分子，使該分子失去電子變?yōu)閹д姾傻姆肿与x子和碎片離子。這些不同離子具有不同的質(zhì)量，質(zhì)量不同的離子在磁場(chǎng)的作用下到達(dá)檢測(cè)器的時(shí)間不同，其結(jié)果呈現(xiàn)為質(zhì)譜圖，根據(jù)質(zhì)譜圖可定性和定量分析樣品分子組成。
ICP質(zhì)譜儀的優(yōu)勢(shì)包括：
融合的四極桿、線(xiàn)性離子阱和質(zhì)譜分析儀技術(shù)，可采集豐富的單樣品數(shù)據(jù)。
方法編輯器模板具有配置齊全的實(shí)驗(yàn)參數(shù)，可直接使用，也可以根據(jù)需要進(jìn)行修改。
深度表征掃描法能通過(guò)可辨識(shí)的片段輕松、智能地發(fā)現(xiàn)更多化合物，從而提高您的分析能力。
能通過(guò)質(zhì)譜解析軟件和可用的譜庫(kù)對(duì)已知的未知分析物和未知的未知分析物進(jìn)行可靠的鑒定和結(jié)構(gòu)解析。這包括質(zhì)譜樹(shù)的生成、計(jì)算機(jī)模擬片段化和前體離子指紋識(shí)別。
ICP質(zhì)譜儀的特點(diǎn)：
1.采用雙光柵共焦的半圓光學(xué)設(shè)計(jì)，使其具有光學(xué)分辨率和靈敏度，又大大縮小儀器體積。
2.采用線(xiàn)CCD陣列檢測(cè)器常溫下運(yùn)行，無(wú)需低溫冷卻、無(wú)需高純氬氣吹掃。
3.使用UV-PLUS氣體凈化技術(shù)，無(wú)需高純氣體吹掃光室，隨時(shí)應(yīng)用遠(yuǎn)紫外譜區(qū)。
4.突破的OPI-AIR接口設(shè)計(jì)，使軸向觀測(cè)水平炬采用原有的通風(fēng)冷卻，免除了昂貴的外部水冷裝置。
5.進(jìn)樣系統(tǒng)的更換僅須卡位鎖定在預(yù)準(zhǔn)直位置。無(wú)需調(diào)節(jié)，操作簡(jiǎn)便而快速。