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上海精科紫外可見分光光度計UV762
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貨物所在地: 上海上海市
地: 上海
更新時間: 2025-05-29 21:00:08
期: 2025年5月29日--2025年11月29日
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產品簡介

生產廠家:F|上分廠|上海精科|上海儀電分析儀器有限公司
狹縫可調 :無
掃描功能 :有
帶寬 :2nm
波長范圍 :200-1100nm
參考價格:35000

產品描述
主要特點:
● 全新的光學系統(tǒng)設計,使儀器的主機具有優(yōu)良的光學性能和測光性能,雜散光和噪聲低,測光精確度和穩(wěn)定可靠性高。

詳細介紹

上海精科紫外可見分光光度計UV762

生產廠家:F|上分廠|上海精科|上海儀電分析儀器有限公司

狹縫可調 :

掃描功能 :

帶寬 :2nm

波長范圍 :200-1100nm

參考價格:35000

產品描述

主要特點:
● 全新的光學系統(tǒng)設計,使儀器的主機具有優(yōu)良的光學性能和測光性能,雜散光和噪聲低,測光精確度和穩(wěn)定可靠性高。
● *的氘燈和鎢燈安裝、光源自動切換及自動尋找*位置的設計和工作方式,使用戶操作儀器和維修替換光源更為方便、正確和安全。
● 優(yōu)良的軟件設計和編制,使儀器有較強的光譜數(shù)據(jù)處理功能:自動掃描測量光譜、多波長(1~3λ)測定、動力學測定、1~3次曲線擬合、1~4階導數(shù)光譜、存取顯示打印光譜圖和分析數(shù)據(jù)。
● 采用大屏幕中文窗口顯示,具有良好的人機對話界面。

技術指標:
● 波長范圍:200nm~1100nm
● 波長zui大允許誤差:±0.5nm
● 波長重復性:≤0.2nm
● 透射比zui大允許誤差:±0.5%(T)
● 透射比重復性:0.2%(T)
● 光譜帶寬:2nm
● 基線平直度:±0.004A(200nm~1000nm)
● 漂移:≤0.004A/h(500nm處,預熱2小時)
● 雜散光:≤0.15%(T)(在220nm處, 以NaI測定)(在360nm處,以NaNO2測定)

其它:
● 電源:AC220V±22V  50Hz±1Hz

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